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鍍層測厚儀

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日立分析儀器OXFORD-243E手持式涂鍍層測厚儀是一款靈便、易用的儀器，專為金屬表面處理者設(shè)計。配置的單探頭可測量鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層，即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進(jìn)行測量。這款測厚儀是緊固件行業(yè)應(yīng)用的理想工具，采用基于相位的電渦流技術(shù)。OXFORD-243E手持式測厚儀易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準(zhǔn)確性和精密性媲美，并且免去了對多探頭、操作培訓(xùn)和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

詳細(xì)信息 在線詢價

測量范圍：

鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭

Zn            0–38μm       ECP-M

Cd      ′      0–38μm       ECP-M

Cr            0–38μm      ECP-M

Cu            0–10μm      ECP-M

 

技術(shù)參數(shù)及功能：

準(zhǔn)確度：相對標(biāo)準(zhǔn)片±3%

精確度：0.3%

分辨率：0.1μm

電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376

存儲量：26,500 條存儲讀數(shù)

尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm

重量：0.26 kg 包括電池

單位：英制和公制的自動轉(zhuǎn)換

接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機(jī)或計算機(jī)

顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示

電池：9伏堿性電池，65小時連續(xù)使用

的ECP-M探頭：ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設(shè)計，此單探頭可以測量，鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

 

ECP-M探頭規(guī)格(mm)

很小凸面半徑

1.143

很小凹面半徑

1.524

測量高度

101.6

很小測量直徑

2.286

底材很小

304.8


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