品名：X射線熒光鍍層厚度測量儀FT9200型號：FT9200系列概要：是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計

品名：X射線熒光鍍層厚度測量儀FT9200
型號：FT9200系列
概要：是利用熒光X射線原理的鍍膜厚度測量計。SFT系列是本公司標準機型。有適用小型部件的SFT9200、有適用大型印刷基板的SFT9255。防止樣品和儀器裝備結構不吻合的功能是本系列的標準裝備。
特長
是FT3000系列的后續機型。
1.依據照明，可以看到以前觀察困難的樣品。
2.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
3.運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。
4.微小領域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。（任選）
5.搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。（任選）
規格
型號FT9200系列
射線源空冷式小型X射線管
準直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm
型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ
樣品觀察CCD照相機
過濾器Co:自動切換
樣品平臺移動量:220（X）x150（Y）x150（Z）mm
X-rayStation電腦（Windows2000®）17英寸CRT