DGS-Ⅲ單道掃描ICP光譜儀可對72種金屬元素和部分非金屬元素(如B,P,Si,Se,Te)進行分析.廣泛應用于稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產品、油、化工、商檢、環保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等領域需要檢測元素的定量分析及各種高純材料的雜質成份分析.

DGS-Ⅲ單道掃描ICP光譜儀的詳細介紹：

DGS-Ⅲ單道掃描ICP光譜儀的核心部分是高分辯率Czerny Turner單色儀光學系統。它配有3600刻線/mm或者4320刻線/mm的全息光柵，窄的入射狹縫及出射狹縫, 具有很高的分辯率和極低的雜散光，保證了系統在分析復雜基體樣品時，受光譜疊加的影響減到zui小。采用直接驅動裝置傳動光柵，保證了極快的分析速度和好的重現性。采用40.68MHZ RF發生器以保證高的信號背景比（S/B）和很低的檢出限。采用新技術設計了優良的檢測系統，保證了分析質量的可靠。以上這些特點使DGS-Ⅲ在分析中具有非常好的檢出限和任意選擇分析元素的靈活性。從而可分析各種物資材料的樣品成分, 特別在各種高純材料及高純稀土的雜質成分分析方面更具有優勢。該儀器在分析指標、穩定性、分析速度、軟件等各方面的技術指標均達到*水平。 

 1 光學系統

1.1單色儀

   采用焦矩為1米的Czerny Turner單色儀，光柵為高光強、高分辯率、雜散光極低的全息光柵，單色儀的設計使其對溫度和壓力的變化都具有*的穩定性，因此這種光學系統具有優異的分析性能。

1.2光柵

  使用110mmX80mm大面積的3600刻線/mm的全息光柵，使單色儀的入射光為可利用的較大視角的平行光，提高了光通量，因此提高了穩定性和信號強度。光柵在高分辯率的條件下也可采集到足夠的光，短的測量時間即可滿足需要，從而減少了所需測量的樣品量。由于雜散光極低，顯著提高了S/B，改善了檢出限。

1.3分辯率

光譜儀的分辯率決定了儀器分辯復雜譜線的能力。高分辨率減少了建立分析方法所需的時間，有較好的檢出限和較高的準確度。DGS-Ⅲ的實際分辯率為：Fe（310.030）<0.007nm。采用3600刻線/mm光柵的光譜范圍為190nm—500nm，可以適用于大部分的光譜分析元素。 

1.4光柵直接驅動

   DGS-Ⅲ型光譜儀采用直接驅動光柵的機械傳動方式，計算機控制下的自動波長參比保證波長的機械準確度總是優于0.004nm。由于*的重現性,掃描速度很快,全譜范圍掃描只需7秒.光柵轉動的高速度使得儀器在1分鐘內可以分析15個元素,這意味著節省氬氣和樣品,分析速度快, 穩定性較高。 

 2. 激發光源及進樣系統

2.1激發光源

DGS-Ⅲ型光譜儀的激發光源為電子管震蕩電路，具有功率自動調節和相位自動匹配功能,其功率輸出從600W-1200W連續可調,等離子的微小波動可以由自動調節系統補償. 40.68MHZ的等離子發生器符合國家無線電對工業頻率的要求，它安裝在單道掃描儀機箱內部, 構成一整體。

2.2進樣系統

   進樣系統采用目前上*的漩流霧室系統，他具有穩定性好，清洗速度快等優點。使分析速度更快，數據更準確。該儀器測量的短期穩定性RSD<1.5%，二小時以上的*穩定性RSD<2%。 

 3．電子檢測系統和計算機

  DGS-Ⅲ和計算機之間的接口是一個智能微處理系統。它負責和計算機之間的數據通訊、采集數據、控制單色儀驅動系統的精確運動，及提供光電倍增管一組高精度負高壓穩壓電源。

3.1電子檢測系統

l   線性動態范圍zui高可達1×10⁸,足以滿足ICP工作曲線校正的需要;

l     zui小分辯率為2.5×10^-10;

l   PMT電流測量范圍為：10^-12-10^-4安培;

l   高品質的電子系統有助降低儀器的分析檢出限和提高精密度。

ICP稀土元素檢測光譜儀應用領域

稀土行業：稀土元素，分辨率高、檢出限低；
 

硅工業：磁性材料加工工業；
 

冶金工業：可分析對金屬材料質量的影響很大AS、Bi、Pb、Sb、Sn等雜質元素；
 

地質、礦石分析：巖石樣品中鈣、鎂、鈉、鐵、銅、錳、鋅、鈷、鎳、金、銀等元素的測定。

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