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HK-2000 ICP光譜儀

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ICP-AES電感耦合等離子發射光譜儀(HK-2000)作為大型精密無機分析儀器,廣泛應用于稀土分析、硅、鉬等,從超微量到常量的定性或定量分析。它集光、機、電、計算機、分析技術于一體的*產品,具有測試速度快、測量寬、分析結果準確可靠等特點。

詳細信息 在線詢價

 

一、儀器組成及工作原理  
ICP等離子體單道掃描光譜儀,是多元素順序測量的分析測試儀器。 該儀器由掃描分光器、射頻發生器、試樣引入系統、光電轉換、控制系統、數據處理系統、分析操作軟件組成。等離子體是在三重同心石英炬管中產生。炬管內分別以切向通入氬氣,炬管上部繞有紫銅負載線圈〈內通冷卻水〉當高頻發生器產生的高頻電流(工作頻率40MHz功率1KW左右)通過線圈時,其周圍產生交變磁場,使少量氬氣電離產生電子和離子,在磁場作用下加速運動與其它中性原子碰撞,產生更多的電子和離子,在炬管內形成渦流,在電火花作用下形成等離子炬(即等離子體),這種等離子體溫度可達10000K以上。待測水溶液經噴霧器形成氣溶膠進入石英炬管中心通道。原子在受到外界能量的作用下電離,但處于激發態的原子十分不穩定,從較高能級躍遷到基態時,將釋放出巨大能量,這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去。不同元素產生不同的特征光譜。這些特征光譜通過透鏡射到分光器中的光柵上,計算通過控制步進電機轉動光柵,傳動機構將分光后的待測元素特征譜線光強準確定位于出口狹縫處,光電倍增管將該譜線光強轉變為電流,再經電路處理和V/F轉換后,由計算機進行數據處理,zui后由打印機打出分析結果。
二、儀器型號:         
HK-2000(準確度達到國家*標準)
三、技術指標 
(1) 分析速度快:    一分鐘分析zui快掃描20個元素以上
(2) 掃描范圍:     掃描范圍180~800nm、方式為正弦桿,由計算機控制的脈沖馬達驅動,zui小掃描步距0.0005nm
(3) 波長示值誤差和重復性:波長示值誤差 ≤0.03nm      重復性 ≤0.005nm
(4) 相關系數:      ≥0.9998
(5) 精密度高:      相對標準偏差RSD≤1.5%
(6) 穩定性:        相對標準偏差RSD≤2.0%
(7) 測量范圍:      超微量到常量
(8) 檢出限低:      PPB
(9) 分析元素范圍廣:可對72種金屬元素和部分非金屬元素(如B、P、Si、Se、Te)進行定量或定性分析;基體效應低動態線性范圍寬,自吸收效應低
(10) 測量方式:     單、多元素順序測量
(11) 功率:         800W—1200W 可調  
(12) 操作便捷:      全新Windows XP下運行的第三代多窗口升級中文或英文分析軟件速度更快,功能更全,多窗口多任務同時執行(國內獨此一家)


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