普析XD6/7系列衍射儀，用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑可在150——285mm范圍內連續可調。

　　普析XD6/7系列衍射儀

　　儀器介紹

　　普析XD6/7系列衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑可在150——285mm范圍內連續可調。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進行均衡選擇，自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。為了提高實驗效率，XD6提高了快速轉動速度，達到1800°/min。

　　普析XD6/7系列衍射儀主要特點

　　• 具備照射光斑面積恒定掃描功能模式。在對樣品進行衍射圖譜全圖連續測試掃描情況下，可極大增強 中高角度衍射峰峰強，降低定性檢索受干擾的程度，提高定量分析的準確性；

　　• 精度高，重現性達到 0.0005°、測量重復性 0.001°、zui小步進角度 0.0001°；

　　• zui快 1800° /min 的測角儀轉動速度，極大提高連續多樣品測試的效率；

　　• 全新的機柜外觀，*的安全性，機柜外輻射劑量低于 0.2μSv/h。