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簡(jiǎn)介：基于德國(guó)制造商多年在微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)領(lǐng)域的開發(fā)和應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)，安賽斯（中國(guó)）有限公司全新一代的德國(guó)微焦點(diǎn)X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)Y.cougar和Y.Cheetah兩款具有代表性的2D/3D微焦點(diǎn)射線檢...

簡(jiǎn)介：DECTRISPilatus3R系列探測(cè)器專為提高X射線的數(shù)據(jù)質(zhì)量而設(shè)計(jì),單光子計(jì)數(shù)技術(shù)和混合像素技術(shù)相結(jié)合，將同步輻射站中的探測(cè)技術(shù)運(yùn)用在您的實(shí)驗(yàn)室中，大幅提高了光子計(jì)數(shù)率。

簡(jiǎn)介：Xenocs小角X射線散射儀Xeuss3.0是新一代實(shí)驗(yàn)室的全自動(dòng)小角/廣角/超小角散射線站，Xeuss3.0作為Xeuss實(shí)驗(yàn)室線站全新一代產(chǎn)品，其測(cè)試能力，產(chǎn)品性能及生產(chǎn)力都提升到了一個(gè)新的層...

簡(jiǎn)介：手持X射線應(yīng)力分析儀主要特點(diǎn)1.小型化輕量化的緊湊型設(shè)計(jì)小型化設(shè)計(jì)的測(cè)試頭單元測(cè)試頭尺寸：114mm（W）×248mm（D）×111mm（H）重量：3kg是目前世界上小輕的X射線應(yīng)力分析儀可以對(duì)內(nèi)...

簡(jiǎn)介：?臺(tái)式小分子單晶X射線分析裝置，標(biāo)志*的臺(tái)式X射線單晶衍射技術(shù)時(shí)代的到來；儀器技術(shù)*，操作簡(jiǎn)單，為學(xué)生和研究者提供測(cè)試分析平臺(tái)；不需要培訓(xùn)，通過自動(dòng)測(cè)量軟件及自動(dòng)分析軟件，可以得到精確的小分子結(jié)構(gòu)...

簡(jiǎn)介：新一代小分子單晶X射線分析裝置。PILATUS是新一代探測(cè)器，以前僅僅用于同步輻射。其的性能可以將測(cè)量時(shí)間縮短到以前的20%（與CCD比較）。PILATUS在室溫狀態(tài)使用，環(huán)境要求寬松，半導(dǎo)體探測(cè)...

簡(jiǎn)介：普析通用XD6多晶衍射儀用于晶體物質(zhì)結(jié)構(gòu)定性定量分析。該產(chǎn)品在XD3基礎(chǔ)上設(shè)計(jì)，測(cè)角儀掃描半徑可在150～285mm范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)。該功能使得用戶可以在儀器測(cè)角分辨率和測(cè)試衍射線強(qiáng)度之間進(jìn)行均衡選...

簡(jiǎn)介：全自動(dòng)聚焦掃描微區(qū)光電子能儀*的全自動(dòng)快速進(jìn)樣系統(tǒng)75mm方形樣品臺(tái),自動(dòng)數(shù)碼照相定位系統(tǒng)，自動(dòng)樣品臺(tái)進(jìn)樣和傳

簡(jiǎn)介：有機(jī)物薄膜用低電流反射高能電子衍射裝置是觀察晶體生長(zhǎng)重要的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)工具。它可以通過非常小的掠射角將能量為10～30KeV的單能電子掠射到晶體表面，通過衍射斑點(diǎn)獲得薄膜厚度，組分以及晶體生長(zhǎng)機(jī)制等重...

簡(jiǎn)介：反射式高能電子衍射儀（ReflectionHigh-EnergyElectronDiffraction）是觀察晶體生長(zhǎng)重要的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)工具。它可以通過非常小的掠射角將能量為10～30KeV的單能電子...