普析通用 XD6多晶衍射儀用于晶體物質結構定性定量分析。該產品在XD3基礎上設計，測角儀掃描半徑可在150～285mm范圍內連續可調。該功能使得用戶可以在儀器測角分辨率和測試衍射線強度之間進行均衡選擇，自行設定需要的試驗條件，滿足不同情況試驗需求。為了提高實驗效率，XD6提高了快速轉動速度，達到1800°/min。
| 普析通用 XD6多晶衍射儀主要特點 |
|
| 普析通用 XD6多晶衍射儀技術參數 |
配置名稱 | XD6 | |
X射線管 （Cu靶國產） | 種類 | Cu靶，NF型（其它靶材可選） |
功率 | 2.0kW | |
焦點 | 1.0×10mm2 | |
X射線發生器 | 可輸出 | 4KW |
X光管電壓 | 15~60kV，1kV /Step | |
X光管電流 | 6~80mA，1mA /Step | |
管電壓、管電流穩定度 | ≤0.01％（電源低壓浮動10％） | |
測角儀 | 測角儀結構 | θs－2θd(XD2) θs－θd(XD3) |
測角儀掃描半徑 | 150～285mm連續可調 | |
掃描角度范圍 | -30~80°（θs） -30～160°（θd） | |
工作方式 | 連續掃描、定時步進掃描、定數步進掃描 | |
連續掃描速度 | 0.125～120°/min | |
可高轉速 | 1800°/min | |
2θ角重復精度 | ≤0.0005° | |
小步進角度 | 0.0001° | |
測量準確度 | ≤0.001° | |
發散狹縫（DS） | 1/6°、1/2°、1°、2° | |
防散射狹縫(SS) | 1/2°、1°、2° | |
接收狹縫(RS) | 0.1，0.15，0.3，0.45，0.6，1，2mm | |
調整狹縫 | 0.02mm | |
檢測器 計數器 | 晶體類型 | NaI |
脈沖幅度分析器（HV/PHA） | 輸出高壓0～1000V，穩定性≤0.01％（8h） | |
機柜 | 機柜尺寸（mm） | 1200（長）×400（寬）×1850（高） |
整機重量（kg） | 500 | |
觀察窗（mm） | 600（高）×400（寬）×10（厚）鉛玻璃 | |
X射線泄露量 | ≤0.1μSv/h（未扣除天然本底） | |
安全措施 | 門聯鎖保護（門到位置，光閘才打開，產生X射線） | |
濾波器 | Ni濾片 | 對應Cu靶 |
石墨彎晶單色器 | 反射效率η≥28％ | |
綜合指標 | 整機綜合穩定度 | ≤0.3％ |
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
