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SPECTRO ICP-MS 雙聚焦ICP-MS等離子質譜儀（SPECTRO MS）
面議2339簡介：*全譜同時測量的質譜儀。雙聚焦扇型磁場質譜儀，無須掃描。新型的長120mm有4800個通道的DCD檢測器安裝在磁場的焦平面上,同時復蓋全部無機質譜范圍,實現全譜同時檢測。它分析速度快,實時內標,并...
北京卓信博澳儀器有限公司 會員等級: 產地：北京市我要詢價 -
EQS 二次離子質譜儀
面議0簡介：EQS是差式泵式二次離子質譜（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用技術的SIMS探針...
北京英格海德分析技術有限公司 會員等級: 產地：我要詢價 -
飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)
面議0簡介：飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)
美國安普科技中心 會員等級: 產地：我要詢價 -
二次離子質譜 IMS 7f
面議0簡介：1、眾多獨立分析實驗室的主力軍2、通用磁扇區二次離子質譜儀：比飛行時間（TOF）SIMS要快，比四級桿SIMS質量分辨率要高3、高靈敏度痕量元素分析：ppm-ppb級4、痕量元素深度剖析：亞微米級...
深圳賽普思科技有限公司 會員等級: 產地：深圳市我要詢價 -
高分辨率二次離子質譜NanoSIMS 50L
面議0簡介：1、專門針對同位素以及痕量元素的高空間分辨率的二次離子探針2、具有*的橫向分辨率，痕量元素和同位素高靈敏度-高空間分辨率（zui小到50nm）-高靈敏度（元素分布圖像ppm）-高質量分辨率（M/d...
深圳賽普思科技有限公司 會員等級: 產地：深圳市我要詢價 -
大型二次離子質譜 IMS 1280-HR
面議0簡介：?針對地質領域和環境科學分析專門而設計、注重原位分析?具有超高的靈敏度?U-Pb地質學定年、穩定同位素分析、痕量元素以及放射性顆粒分析的zui高水平分析儀器
深圳賽普思科技有限公司 會員等級: 產地：深圳市我要詢價