Dektak 8臺階式探針輪廓儀，結構緊湊，可提供很高的重復性和精度。的X–Y方向定位系統可移動到8x8inch區域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理，還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點高度、纖維光學元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak 8系統對于MEMS，納米技術和半導體應用都非常方便。

主要特點：

1. 臺階高度測量重復性高
2. 是功能強大的探針輪廓儀，可限度的滿足各種應用需要
3. 簡單易用
4. 作為一款桌面型輪廓儀，掃描范圍可達200mm