我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線(xiàn)熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）、液相色譜儀（LC）、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）、高頻紅外碳硫分析儀（CS）、礦漿載流在線(xiàn)采樣儀（OSA）等。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs、銻Sb、鋇Ｂa、鎘Cd、鉻Cr、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、合金（銅合金、鋁合金、鎂合金等）、冶金（鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等）、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質(zhì)、土壤、環(huán)境保護(hù)、香精香料、紡織品、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)、質(zhì)量檢驗(yàn)、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等。銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等。
土壤重金屬含量檢測(cè)儀
應(yīng)用領(lǐng)域：
可對(duì)各種土壤進(jìn)行多元素分析，廣泛應(yīng)用于各類(lèi)土壤的檢測(cè)和分析，是保證土壤安全的*。被檢測(cè)的樣品可以是固體、粉塵、粉末、實(shí)心體、碎片、泥漿過(guò)濾物質(zhì)、薄膜層等有形物體。
性能特點(diǎn)：
現(xiàn)場(chǎng)分析快速準(zhǔn)確，幾十秒內(nèi)完成測(cè)試，并判定結(jié)果，大限度地節(jié)省時(shí)間和費(fèi)用；
? 適應(yīng)-20°C到50°C各種惡劣環(huán)境，長(zhǎng)期在多塵、潮濕、溫工作環(huán)境下亦可達(dá)到理想狀態(tài)；
? 分析元素多：K、Ca、、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、As、Se、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Ag、Mo、Cd、Sn、Hf、Ta、W、Re、Bi、Sb、Pb、Au、Hg等。
? 圖形化界面，軟件操作靈活，譜圖直觀顯示，結(jié)果顯示明確；
? 軟件根據(jù)用戶(hù)設(shè)置多條工作曲線(xiàn)，并且可以根據(jù)測(cè)試要求編輯和建立新的曲線(xiàn)；
技術(shù)參數(shù)：
工作原理：XRF 利用X射線(xiàn)熒光光譜分析
分析范圍：硫（S)—鈾（U）
探 測(cè) 器：采用的Si-PIN X射線(xiàn)探測(cè)器，性能、分辨率，半導(dǎo)體電制冷
數(shù)據(jù)顯示：配備清晰、分辨率的PDA（個(gè)人數(shù)字助理），windows Ce操作系統(tǒng)，支持藍(lán)牙傳輸、各人數(shù)據(jù)處理、電子郵件發(fā)送
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：超大容量的SD存儲(chǔ)卡和SD讀卡器，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)計(jì)算機(jī)存檔與打印
電 源：兩塊鋰電池充滿(mǎn)電可連續(xù)工作不低于8小時(shí)
工作條件：溫度-20℃～＋50℃
土壤重金屬含量檢測(cè)儀
