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粗糙度儀測量平臺

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粗糙度儀測量平臺TA610/TA620/TA650適用于TR系列粗糙度儀。

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粗糙度儀測量平臺TA610

  • 齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來
    測量不容易放置的工件，可提高測量精度
  • 花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
  • 花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
  • 垂直升降高度：270mm
  • 垂直升降微調量：20mm
  • 粗糙度儀測量平臺

    TA620

    • 絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測
      量形狀較小的工件，可提高測量精度
    • 花崗巖平臺平面度：00級|平面公差值3μm
    • 花崗巖平臺尺寸：400×250×70mm
    • 垂直升降高度：300±1mm
    • 升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈
    • 粗糙度儀測量平臺

      TA650|TR300專用

      • 垂直方向上的升降高度：300±1mm
        微調由儀器上的可調支架完成
      • 垂直方向上的旋轉角度：±45°
      • 回程誤差：不大于手輪的1/6圈
      • 平臺的平面度：00級|平面公差值3μm
      • 平臺尺寸：600×420×80 mm
      • 總高度：695 mm
      • 粗糙度儀測量平臺


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