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SL-300光譜輻射分析儀

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根據CIE No.63指南要求,全光譜法測量各種光源及半導體發光器件的光譜功率分布、色品坐標、色溫、顯色指數、色容差、色偏差、顏色純度和主波長、光通量、亮度、輻射功率、光生物指數、發光效率等參數。廣泛應用于熒光燈、高強度氣體放電燈、鹵鎢燈、半導體發光器件,植物生長及光源等光、色分析。

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功能:根據CIE No.63指南要求,全光譜法測量各種光源及半導體發光器件的光譜功率分布、色品坐標、色溫、顯色指數、色容差、色偏差、顏色純度和主波長、光通量、亮度、輻射功率、光生物指數、發光效率等參數。廣泛應用于熒光燈、高強度氣體放電燈、鹵鎢燈、半導體發光器件,植物生長及光源等光、色分析。

性能指標: 
◆  符合CIE、IEC及GB/T相關標準 
◆  全光譜法測量光色參數,無V(λ)修正誤差 
◆  波長范圍:380nm~800nm 
◆  波長精度:0.2nm 
◆  探測器:HAMAMATSU光電倍增管 
◆  測量速度:30s/400nm 
◆  測量參數:光譜功率(輻射)分布、色品坐標、色溫、顯色指數、光通量、輻射通量﹡、發光效率﹡ 


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