產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
1. 鍍層檢測，最多鍍層檢測可達 5 層，精度及穩(wěn)定性高（見以下產(chǎn)品特征詳述）。
2. 平臺尺寸：620*525mm，樣品移動距離可達 220*220*10mm。（固定臺可選）
3. 激光定位和自動多點測量功能。
4. 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
5. 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
6. 可進行未知標樣掃描、無標樣定性，半定量分析。
7. 操作簡單、易學易懂、精準無損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性，快速出檢測結
果。
8. 可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
9. 軟件升級。
10. 無損檢測，一次性購買標樣可使用。
11. 使用安心無憂，售后服務響應時間 24H 以內(nèi)，提供服務。
12. 可以遠程操作，解決客戶使用中的后顧之憂。
(二）產(chǎn)品特征；
1. 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
2. 計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048 通道逐次近似計算法 ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）。
3. Multi Ray. 運用基本參數(shù)（FP）軟件，通過簡單的三步進行無標樣標定，使用
基礎參數(shù)計算方法，對樣品進行精確的鍍層厚度分析。可以增加 RoHS 檢測功能。
4. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2線性模式進行薄鍍層厚度測量相對（比）模式無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497多鍍層厚度同時測量
5. Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7 軟件操作系統(tǒng)
- 完整的統(tǒng)計函數(shù)均值、 標準差、 低/高讀數(shù)，趨勢線，Cp 和 Cpk 因素等
- 自動移動平臺，用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量。測量點數(shù)
量 = 每 9999 每個階段文件。每個階段的文件有最多 25 個不同應用程序。特殊工具如"線掃描"和"格柵"。每個階段文件包含統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能。
產(chǎn)品配置及技術指標說明
| u 測量原理：能量色散 X 射線分析 | u 樣品類型：固體/粉末 |
| u X 射線光管：50KV，1mA | u 過濾器：5 過濾器自動轉(zhuǎn)換 |
| u 檢測系統(tǒng) u SDD探測器(可選 u sipin) | u 能量分辨率：159eV（SDD:125eV） |
| u 檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92) | u 準直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
| u 應用程序語言：韓／英／中 | u 分析方法：FP/校準曲線，吸收，熒光 |
| u 儀器尺寸：840*613*385mm | u 樣品移動距離：220*220*10 mm（自動臺） |
1. X 射線管：高穩(wěn)定性 X 光光管，使用壽命（工作間>18,000 小時） 微 焦點 X 射線管、
Mo (鉬) 靶鈹窗口， 陽極焦斑尺寸 75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供性能。
2. 探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
3. 濾光片/可選初級濾光片：Al濾光片，自動切換7個準直器：客戶可選準直器尺寸或
定制特殊尺寸準器。(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
4. 平臺：軟件程序控制步進式電機驅(qū)動 X-Y 軸移動大樣品平臺。激光定位、簡易荷載最
大 負載量為 5 公斤軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量
5. 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡易荷載、激光定位及拍照功能
6. 分析譜線：
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換）
基點改正（基線本底校正）
密度校正Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7. 視頻系統(tǒng)：高分辨率 CCD 攝像頭、彩色系統(tǒng)
觀察范圍：3mm x 3mm
放大倍數(shù)：40X
照明方法：上照式
8. 計算機、打印機（贈送）
1）含計算機、顯示器、打印機、鍵盤、鼠標
2）含Win 7/Win 10系統(tǒng)。
3）Multi-Ray鍍層分析軟件
