非接觸式膜厚測量儀E-80產品描述:◆非接觸光學測量系統◆應對各種高反光、高透光材質◆高速采樣

非接觸式膜厚測量儀 E-80

產品描述: 

◆非接觸光學測量系統

◆應對各種高反光、高透光材質

◆高速采樣，周期20µs  

◆強大的CPK統計功能

◆測量輪廓、斷差、槽深、膜厚等

技術： 

◆采用白光共焦技術，分辨率達到納米級，同時采用了光纖傳感器，具有抗干擾、損耗低、安全隔離、可靠性高等優點 

◆機械精度達到微米級，運行平穩，跳動小，磨損低 

◆Y向自動測量，重復精度1μm 

應用： 

◆環氧樹脂測量 

◆印刷圖形測量 

◆激光打標測量 

◆焊膏厚度測量 

◆表面膜厚測量 

設備技術參數: