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參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 北京德美瑞華科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/12/11 16:43:57
- 訪問次數(shù) 6
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。奧林巴斯推出45MG超聲波測(cè)厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測(cè)厚儀,奧林巴斯45MG超聲波測(cè)厚儀,奧林巴斯推出45MG超聲波測(cè)厚儀。
產(chǎn)品特性:
45MG儀器是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀。這款特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容,是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器,可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。
標(biāo)準(zhǔn)功能:
45MG儀器在使用基本配置時(shí),是一款易懂易學(xué)、操作簡(jiǎn)便的測(cè)厚儀,操作人員經(jīng)過最基本的培訓(xùn),就可完成的測(cè)厚應(yīng)用。不過,45MG儀器添加了可選軟件選項(xiàng)和探頭后,就會(huì)變成一款極為高級(jí)的測(cè)厚儀,可以進(jìn)行典型的初級(jí)儀器不能完成的應(yīng)用。此外,大多數(shù)選項(xiàng)可以在購買儀器時(shí)分別購買,或在日后需要時(shí)購買。
- 與所有Olympus雙晶探頭兼容,可對(duì)內(nèi)部腐蝕的金屬的厚度進(jìn)行測(cè)量
- 最小值/值模式
- 兩個(gè)報(bào)警模式
- 差值模式
- 時(shí)基B掃描
- 縮減率
- 增益調(diào)整(標(biāo)準(zhǔn)、高、低)
- 密碼式儀器鎖定
可選功能:
只需幾次按鍵,即可完成從簡(jiǎn)單腐蝕測(cè)厚儀到多功能精確測(cè)厚儀的華麗變身。45MG測(cè)厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng),從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途泛的測(cè)厚儀行列。
回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項(xiàng),儀器屏幕上會(huì)顯示金屬的實(shí)際厚度,而涂層的厚度會(huì)被忽略。穿透涂層選項(xiàng)測(cè)量金屬厚度與非金屬涂層的厚度,這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,在進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí),無需去掉材料表面的漆層或涂層。
單晶: 這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)很多材料,如:金屬、塑料、復(fù)合材料、玻璃及陶瓷,進(jìn)行非常精確的厚度測(cè)量。這個(gè)選項(xiàng)可與范圍在2.25 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
單晶高穿透:這個(gè)選項(xiàng)可對(duì)較厚或衰減性較高的材料,如:玻璃纖維或鑄造金屬,進(jìn)行厚度測(cè)量??膳c范圍在0.5 MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
數(shù)據(jù)記錄器:45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。這個(gè)選項(xiàng)包含基于Windows的GageView接口程序。
帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描: 用戶使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式,可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測(cè)量讀數(shù),對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整,以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
抵御惡劣環(huán)境的能力:堅(jiān)固耐用,設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。
爆炸性氣氛:可在國家防火協(xié)會(huì)規(guī)范(NFPA70)500節(jié)I級(jí)2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作,并且通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法511.4程序I中規(guī)定的測(cè)試。
防撞擊測(cè)試:通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法516.5程序I中規(guī)定的測(cè)試,每軸6個(gè)循環(huán),15 g,11 msec半弦波。
防振動(dòng)測(cè)試:通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810G方法514.5程序I附錄C圖6中的測(cè)試,一般暴露:每軸1小時(shí)。
寬泛的操作溫度范圍
可選的帶有支架的橡膠保護(hù)套
- 可只用右手或左手操作的簡(jiǎn)潔的鍵區(qū)
- 可直接訪問大多數(shù)功能的簡(jiǎn)便易行的操作界面
- 使用內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡的存儲(chǔ)方式
- USB通訊端口
- 可存儲(chǔ)475000個(gè)厚度讀數(shù)或20000個(gè)波形的可選字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器
- 默認(rèn)或自定義單晶探頭設(shè)置(可選)
- 密碼保護(hù)方式的儀器鎖定
- 彩色透反QVGA顯示,帶有室內(nèi)和室外顏色設(shè)置,具有的清晰度
主要性能參數(shù) | |
雙晶探頭測(cè)量模式 | 從激勵(lì)脈沖后的精確延遲到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。 |
自動(dòng)回波到回波(可選) | 在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔,不計(jì)漆層或涂層的厚度。 |
穿透涂層測(cè)量(可選) | 利用單個(gè)底面回波,測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度(使用D7906-SM和D7906探頭) |
單晶探頭測(cè)量模式(可選) | 模式1:激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。 |
厚度范圍 | 0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)視材料、探頭、表面條件、溫度和所選配置而定(要測(cè)量的范圍需要使用單晶選項(xiàng)) |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs) |
分辨率(可選擇) | 低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) |
探頭頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn):2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(單晶選項(xiàng)):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB) |
一般規(guī)格參數(shù) | |
操作溫度范圍 | -10 °C~50 °C(14 °F~122 °F) |
鍵盤 | 密封、以色彩區(qū)分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋 |
機(jī)殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機(jī)殼,機(jī)殼上的接口密封。設(shè)計(jì)符合IP67標(biāo)準(zhǔn)。 |
外型尺寸(寬 x 高 x 厚) | 總體尺寸:91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
重量 | 430.9克 |
電源 | 3節(jié)AA電池/USB電源供應(yīng) |
電池工作時(shí)間 | 3節(jié)AA堿性電池:20到21小時(shí) |
標(biāo)準(zhǔn) | 設(shè)計(jì)符合EN15317標(biāo)準(zhǔn) |
顯示 | |
彩色透反QVGA顯示 | 液晶顯示,顯示屏尺寸:54.61毫米 x 41.15毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負(fù)半波(波形選項(xiàng)) |
輸入/輸出 | |
USB | 2.0標(biāo)準(zhǔn)接口 |
存儲(chǔ)卡 | 容量:2 GB可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡 |
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器(可選) | |
數(shù)據(jù)記錄器 | 45MG通過USB或MicroSD卡識(shí)別、存儲(chǔ)、調(diào)用、清除及傳輸厚度讀數(shù)、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個(gè)厚度測(cè)量讀數(shù),或20000個(gè)帶厚度值的波形 |
文件名稱和ID編碼 | 32位字符的文件名,20位字符的字母數(shù)字位碼 |
文件結(jié)構(gòu) | 6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的或自定義的用于特定應(yīng)用的文件結(jié)構(gòu) |
報(bào)告 | 機(jī)載報(bào)告總結(jié)了數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)和最小值/值 |
- 45MG數(shù)字式超聲測(cè)厚儀
- AA堿性電池
- 2階試塊和耦合劑
- USB線纜
- 用戶手冊(cè),存于CD盤上
- 測(cè)量功能:最小值/值模式、兩個(gè)報(bào)警模式、差值模式、B掃描、縮減率、可編程的鎖定功能
- 45MG-SE(U8147022):單晶選項(xiàng),使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭
- 45MG-HP(U8147023):單晶高穿透選項(xiàng),使用頻率范圍為0.5 MHz~30 MHz的單晶探頭
- 45MG-EETC(U8147021):回波到回波和穿透涂層
- 45MG-WF(U8147019):波形選項(xiàng)
- 45MG-DL(U8147020):內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器,包含GageView接口程序
- MICROSSD-ADP-2GB(U8779307): 2 GB外置MicroSD存儲(chǔ)卡
- 45MG-RPC(U8779676): 帶支架的橡膠保護(hù)套
45MG測(cè)厚儀提供需密碼激活的5個(gè)軟件選項(xiàng),從而躋身于工業(yè)領(lǐng)域中用途泛的測(cè)厚儀行列。
- 回波到回波/穿透涂層
- 單晶
- 單晶高穿透
- 數(shù)據(jù)記錄器
- 帶有波形調(diào)整功能的實(shí)時(shí)A掃描
使用單個(gè)底面回波測(cè)量金屬的實(shí)際厚度。使用這個(gè)技術(shù)可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個(gè)厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此,要得到金屬的厚度,無需去掉表面的漆層和涂層。穿透涂層測(cè)量技術(shù)使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。
回波到回波
測(cè)厚儀使用多個(gè)底面回波,顯示不計(jì)涂層厚度的實(shí)際金屬厚度:
自動(dòng)回波到回波
手動(dòng)回波到回波(僅出現(xiàn)于A掃描選項(xiàng)),可進(jìn)行以下操作:
增益調(diào)整
擴(kuò)展空白
回波空白
用戶使用單晶軟件選項(xiàng),可以完成分辨率高達(dá)0.001毫米或0.0001英寸的極為精確的厚度測(cè)量。可與范圍在2.25MHz到30 MHz的單晶Microscan探頭相兼容。
- 大多數(shù)薄材料和厚材料
- 壁厚薄如0.08毫米(0.003英寸)的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
- 壁厚薄如0.10毫米(0.004英寸)的金屬容器、鋼圈板、機(jī)加工部件
- 汽缸孔、渦輪葉片
- 玻璃燈泡、瓶子
- 薄壁玻璃纖維、橡膠、陶瓷及復(fù)合材料
- 曲面部分或內(nèi)圓角半徑較小的容器
用戶使用這個(gè)選項(xiàng)可在使用低頻單晶探頭(低到0.5 MHz)的情況下,測(cè)量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復(fù)合材料等較厚或聲波衰減性較強(qiáng)的材料。這個(gè)選項(xiàng)包含單晶選項(xiàng)。
- 大多數(shù)較厚或聲音衰減性較強(qiáng)的材料
- 厚鑄造金屬部件
- 厚橡膠輪胎、履帶
- 玻璃纖維船體、儲(chǔ)存罐
- 復(fù)合材料板
注:對(duì)于頻率范圍為0.5 MH到1.0 MHz的探頭,分辨率為0.01毫米(0.001英寸)
45MG測(cè)厚儀帶有一個(gè)功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器,可方便地存儲(chǔ)和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)包含GageView接口程序。
數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)
- 內(nèi)置存儲(chǔ)容量為475000個(gè)厚度讀數(shù),或20000個(gè)帶有厚度讀數(shù)的波形。
- 32位字符的文件名稱
- 20位字符的ID#(TML#)編碼
- 6個(gè)文件格式:遞增型、序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、兩維柵格、鍋爐型及通過GageView在PC機(jī)上手動(dòng)創(chuàng)建的文件格式
- 內(nèi)置MicroSD存儲(chǔ)卡和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡
- 可以在內(nèi)置和可插拔MicroSD存儲(chǔ)卡之間拷貝文件
- 標(biāo)準(zhǔn)型USB通訊
- 單晶探頭設(shè)置的雙向傳輸
- 機(jī)載統(tǒng)計(jì)報(bào)告
- 機(jī)載DB柵格視圖,使用3種可編輯的顏色
- GageView接口程序可與45MG儀器通訊,方法是:
- 通過USB端口
- 讀取MicroSD存儲(chǔ)卡上的數(shù)據(jù),或在存儲(chǔ)卡上寫入信息
- 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV(以逗號(hào)分隔值)格式或.txt格式,直接導(dǎo)出到MicroSD存儲(chǔ)卡
- 可以方便地生成并打印包含測(cè)量值、ID編碼及其它參數(shù)的測(cè)量報(bào)告
GageView 接口程序
- 包含在數(shù)據(jù)記錄器選項(xiàng)中
- 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自45MG測(cè)厚儀的數(shù)據(jù)
- 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)
- 編輯所存數(shù)據(jù)
- 顯示數(shù)據(jù)集和測(cè)量總結(jié)文件。文件包含厚度讀數(shù)、測(cè)厚儀設(shè)置值及探頭設(shè)置值
- 從測(cè)厚儀上下載厚度測(cè)量總結(jié),或上傳厚度測(cè)量總結(jié)至測(cè)厚儀
- 將測(cè)量總結(jié)導(dǎo)出到電子表格及其它程序
- 收集捕獲的屏幕
- 打印有關(guān)厚度、設(shè)置表格、統(tǒng)計(jì)及彩色柵格的報(bào)告
- 升級(jí)45MG軟件
- 下載和上傳單晶探頭設(shè)置文件
在PC機(jī)上可以看到以柵格形式出現(xiàn)的數(shù)據(jù)通過不同顏色清晰地標(biāo)明超出容差的厚度情況
用戶使用這個(gè)可選實(shí)時(shí)A掃描模式,可以在測(cè)厚儀的顯示屏上直接查看超聲波形(或稱A掃描),核查厚度測(cè)量讀數(shù),對(duì)增益和空白設(shè)置進(jìn)行手動(dòng)調(diào)整,以在具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用中限度地增強(qiáng)測(cè)量性能。這個(gè)極為有益的選項(xiàng)包含手動(dòng)增益調(diào)整、擴(kuò)展空白、回波空白、范圍及延遲參數(shù)。
雙晶探頭,用于腐蝕測(cè)厚操作
單晶探頭,用于精確厚度測(cè)量
所有標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭都具有自動(dòng)探頭識(shí)別功能。這個(gè)功能可以為每個(gè)特定探頭自動(dòng)調(diào)用默認(rèn)V聲程校正。
探頭規(guī)格參數(shù)
探頭 | 工件編號(hào) | 頻率(MHz) | 連接器 | 端部直徑mm(in.) | 范圍(鋼)*mm(in.) | 溫度范圍** °C (°F) | 線纜 | 工件編號(hào) |
D790 | U8450002 |
| 平直 |
11.00 |
1.00 to 500.00 |
| 密封 | ˉ |
D790-SM | U8450009 | 平直 | LCMD-316-5B | U8800353 | ||||
D790-RL | U8450007 | 90° | LCLD-316-5G | U8800330 | ||||
D790-SL | U8450008 | 平直 | LCLD-316-5H | U8800331 | ||||
D791 | U8450010 | 5.0 | 90° | 11.00 | 1.00~500.00 | -20~500 | 密封 | ˉ |
D791-RM | U8450011 | 5.0 | 90° | 11.00 | 1.00~500.00 | -20~400 | LCMD-316-5C | U8800345 |
D792 | U8450012 | 10 | 平直 | 7.20 | 0.50~25.00 | 0~50 | 密封 | ˉ |
D793 | U8450013 | 90° | 密封 | ˉ | ||||
D794 | U8450014 | 5.0 | 平直 | 7.20 | 0.75~50.00 | 0~50 | 密封 | ˉ |
D797 | U8450016 | 2.0 | 90° | 22.90 | 3.80~635.00 | -20~400 | 密封 | ˉ |
D797-SM | U8450017 | 平直 | LCMD-316-5D | U8800355 | ||||
D7226 | U8454013 | 7.5 | 90° | 8.90 | 0.71~100.00 | -20~150 | 密封 | ˉ |
D798-LF | U8450019 | |||||||
D798 | U8450018 | 7.5 | 90° | 7.20 | 0.71~100.00 | -20~150 | 密封 | ˉ |
D798-SM | U8450020 | 平直 | LCMD-316-5J | U8800357 | ||||
D799 | U8450021 | 5.0 | 90° | 11.00 | 1.00~500.00 | -20~150 | 密封 | ˉ |
MTD705 | U8620225 | 5.0 | 90° | 5.10 | 1.00~19.00 | 0~50 | LCPD-78-5 | U8800332 |
D7906-SM?? | U8450005 | 5.0 | 平直 | 11.00 | 1.00~50.00 | 0~50 | LCMD-316-5L | U8800358 |
D7906-RM?? | U8450025 | 90° | LCMD-316-5N | U8800647 | ||||
D7908 | U8450006 | 7.5 | 90° | 7.20 | 1.00~37.00 | 0~50 | 密封 | ˉ |
*厚度范圍取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。 | ?可提供不銹鋼線纜;欲查詢?cè)斍椋?qǐng)與Olympus NDT聯(lián)系。 | |||||||
**溫度下,僅使用間歇接觸。 | ??使用穿透涂層技術(shù)的探頭。 |
單晶探頭,用于精確厚度測(cè)量
接觸式探頭
頻率 | 晶片直徑 |
|
| |
mm | in. | |||
0.5 | 25 | 1.00 | M101-SB* | U8400017 |
1.0 | 25 | 1.00 | M102-SB* | U8400018 |
1.0 | 13 | 0.5 | M103-SB* | U8400020 |
2.25 | 13 | 0.5 | M106-RM | U8400023 |
M106-SM | U8400025 | |||
2.25 | 13 | 0.5 | M1036 | U8400020 |
5.0 | 13 | 0.5 | M109-RM | U8400027 |
M109-SM | U8400028 | |||
5.0 | 6 | 0.25 | M110-RM | U8400030 |
M110-SM | U8400031 | |||
10 | 6 | 0.25 | M112-RM | U8400034 |
M112H-RM** | U8400033 | |||
10 | 3 | 0.125 | M1016 | U8400015 |
20 | 3 | 0.125 | M116-RM | U8400038 |
M116-SM | U8400039 | |||
20 | 3 | 0.125 | M116H-RM** | U8400037 |
*這些探頭只能與高穿透軟件選項(xiàng)一起使用。
**需使用彈簧加載支架。
Sonopen 探頭
Sonopen探頭的延遲塊可以更換,其端部為錐形,可接觸到極其狹窄的區(qū)域。這種探頭可以在測(cè)量渦輪葉片厚度及塑料容器的內(nèi)圓角的厚度等應(yīng)用中提供可靠的厚度讀數(shù)。
Sonopen - 15 MHz,3 mm(0.125 in.)探頭
平直手柄 | 直角手柄 | 45°手柄 | |||
工件 | 工件 | 工件 | 工件 | 工件 | 工件 |
V260-SM | U8411019 | V260-RM | U8411018 | V260-45 | U8411017 |
Sonopen - 可替換的延遲塊
直徑 | 工件 | 工件 | |
mm | in. | ||
2.0 | 0.080 | DLP-3 | U8770086 |
1.5 | 0.060 | DLP-302 | U8770088 |
2.0 | 0.080 | DLP-301? | U8770087 |
?高溫延遲,可用于高達(dá)175°C的溫度。
水浸探頭
Panametrics Microscan水浸探頭的設(shè)計(jì)目的是在水中傳播并接收超聲波。當(dāng)被測(cè)樣件的幾何形狀較為復(fù)雜或進(jìn)行在線檢測(cè)時(shí),通過水浸技術(shù)獲得的厚度讀數(shù)通常更為可靠。典型的離線應(yīng)用包含對(duì)小直徑塑料或金屬管件的壁厚測(cè)量,掃查或旋轉(zhuǎn)測(cè)量,以及對(duì)大幅彎曲的樣件進(jìn)行的厚度測(cè)量。在某些應(yīng)用中可能需要探頭觸及到極其狹小的區(qū)域。
頻率 | 晶片直徑 |
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| |
mm | in. | |||
2.25 | 13 | 0.50 | M306-SU | U8410027 |
5.0 | 13 | 0.50 | M309-SU | U8420001 |
5.0 | 6 | 0.25 | M310-SU | U8420004 |
10 | 6 | 0.25 | M312-SU | U8420008 |
15 | 6 | 0.25 | M313-SU | U8420009 |
20 | 3 | 0.125 | M316-SU | U8420011 |
RBS-1水浸箱
RBS-1水浸箱的設(shè)計(jì)目的是簡(jiǎn)化利用水浸技術(shù)的超聲測(cè)厚操作。
延遲塊探頭
Microscan延遲塊探頭可在測(cè)量極薄材料,溫度,或要求厚度分辨率的應(yīng)用中,發(fā)揮的測(cè)量性能。
頻率 | 晶片 |
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mm | in. | |||||
0.5 | 25 | 1.00 | M2008* | U8415001 | - | - |
2.25 | 13 | 0.50 | M207-RB | U8410017 | - | - |
5.0 | 13 | 0.50 | M206-RB | U8410016 | - | - |
5.0 | 6 | 0.25 | M201-RM | U8410001 | - | - |
5.0 | 6 | 0.25 | M201H-RM | U8411030 | 2127 | U8770408 |
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| M202-RM | U8410003 |
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M202-SM | U8410004 | |||||
10 | 6 | 0.25 | M202H-RM | U8507023 | 2127 | U8770408 |
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| M203-RM | U8410006 |
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M203-SM | U8410007 | |||||
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| M208-RM | U8410019 | ||
注:測(cè)試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑
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