JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡的電子光學系統標準配備了一體化的球差校正器, 其掃描透射像分辨率(STEM-HAADF)達到了0.08nm，為商用透射電子顯微鏡分辨率的世界之zui。

JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡

JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡的電子光學系統標準配備了一體化的球差校正器, 其掃描透射像分辨率（STEM-HAADF）達到了0.08nm，為商用透射電子顯微鏡分辨率的世界之zui。

保證0.08nm的世界zui高STEM （HAADF） 分辨率

JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡

為電子光學系統標準配備了一體化球差校正器，電氣和機械性能的穩定性也達到極限水平, 使掃描透射像（STEM-HAADF）分辨率達到0.08nm, 成為商用透射電子顯微鏡中的世界之zui。電子束在像差校正之后, 束流密度比傳統的透射電子顯微鏡高出一個數量級。因為束流更亮更細、電流密度高, ARM200F能夠在進行原子水平分析的同時, 還能縮短檢測時間和提高樣品處理能力。

JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡電氣穩定性的提高

要達到原子水平的分辨率, 控制電子光學系統的電源需要穩定。ARM200F把高壓和物鏡電流變動降低到傳統透射電子顯微鏡50%, 大幅度地提高了電氣的穩定性。

JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡機械穩定性的提高

照射系統和成像系統采用像差校正器，實現原子水平的分析和成像，需要控制原子水平的振動和變形。 ARM200F整體機械強度比傳統透射電子顯微鏡增大兩倍，通過增大鏡筒尺寸，提高了剛度，優化了操作臺結構,增強了機械的穩定性。

JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡高擴展性的STEM 分析能力

暗場檢測器因STEM檢測角度的不同有兩種類型（其中一種為標配）, 它和明場檢測器（標準配備）, 背散射電子檢測器 （選配件） 可以同時安裝。新的掃描成像獲取系統能夠同時收集4種不同類型的信號, 可以同時觀察這4種圖像。

JEM-ARM200F 透射電子顯微鏡環境對策

裝置設置室的溫度變化和雜散磁場也能引起原子水平的振動和變形。為降低外部影響，ARM200F特別標配了熱屏蔽和磁屏蔽系統。另外，對鏡筒加外売覆蓋以免受周圍空氣對流所引起的鏡筒表面溫度變化的影響。

用于成像系統的球差校正器 （選配件）

使用選配的成像系統球差校正器, 透射電子顯微鏡的圖像（TEM）分辨率能提高到0.11 nm。

1. 使用HAADF （高角度環形暗場）檢測器

2. 測試標樣Ge（112）情況下保證.

3. 選配件

4. 標準電壓: 120 kV, 200 kV