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產品概要支持SiC、GaN、GaAs晶圓測試，大功率晶圓測試；更換Chuck設計，可針對不同晶圓測試；可與儀器儀表系統進行集成；可升級高低溫環境測試
產品概要
支持SiC、GaN、GaAs晶圓測試，大功率晶圓測試； 更換Chuck設計，可針對不同晶圓測試； 可與儀器儀表系統進行集成； 可升級高低溫環境測試。
基本信息
| 產品型號 | A12 | 工作環境 | 開放式 |
| 電力需求 | 220VAC±10V/50Hz/2.2KW | 操控方式 | 全自動 |
| 產品尺寸 | 1660 x 1770 x 1015 mm 1660 x 1700 x 1455 mm | 設備重量 | 1700kg |
應用方向
晶圓測試、各類器件、Wafer等進行I-V、C-V、光信號、RF、1/f噪聲等特性分析、射頻測試等。
技術特點
產品特點
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