| 一﹑設(shè)備特點(diǎn): 1.采用美國(guó)原裝電致冷高性能Si-PIN探測(cè)器，分辨率高，探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。 2. 配置國(guó)際的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器，比普通模擬多道信號(hào)處理器性能更佳，尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間更短，測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性更好。 3. 內(nèi)置高清攝像系統(tǒng)，清晰觀察樣品，準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。 4. 配套的FP測(cè)量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果 *元素分析范圍:硫（S）-鈾（U）任意元素,可分析不銹鋼、銅合金、鋅合金、錫鉛合金、貴金屬分析等。定量測(cè)試ROHS和鹵素中的 鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻(Cr)、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴聯(lián)苯醚（PBDE）中的總溴,鹵素中的溴(Br)、氯（Cl）。可以分析最多5層鍍層，一次可分析元素多達(dá)24種 *技術(shù)參數(shù): 檢出下限：Pb /Cd/Cr/Hg/Br/Cl≦2ppm 測(cè)試樣品時(shí)間：50－300秒可調(diào) 測(cè)試含量范圍：1ppm－99.99% 分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到50μm 樣品形狀：任意大小，任意不規(guī)則形狀 樣品類型：塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體 X射線管：管電壓/0～50 kV 管電流/1～1000 μA，功率: 50 W，燈絲電壓: 2.0V，燈絲電流: 1.7 A，射線取出角：12°靶材：鎢靶，鈹窗厚度：400um，超溫超載保護(hù)，不工作時(shí)自動(dòng)進(jìn)入待機(jī)狀態(tài)延長(zhǎng)使用壽命。 照射直徑：準(zhǔn)直器8mm/2mm/1mm /0.5mm 探測(cè)器：美國(guó)Amptek Si-PIN高靈敏度探測(cè)器，分辨率：149±5eV。 美國(guó)Spellman高壓電源：輸入電壓: DC +24V±10%，輸入電流：4.25A（），輸出電壓: 0 -50KV & 1mA ，功率：50W，電壓調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載）電流調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載），紋波電壓：輸出額定電壓前提條件下，紋波電壓的峰值為輸出電壓的0.25%，8小時(shí)穩(wěn)定性：≤0.05%。 散熱系統(tǒng)： 機(jī)身前后有多個(gè)散熱孔散熱，機(jī)身內(nèi)有3個(gè)風(fēng)扇進(jìn)行風(fēng)冷，X光管進(jìn)行涂層高溫降熱樹脂后散熱片包裹，再有1個(gè)風(fēng)扇對(duì)其吹風(fēng)散熱。 防輻射系統(tǒng)： 軟硬結(jié)合的防輻射設(shè)計(jì)，三重處理：X光管的特殊輻射處理、樣品蓋的雙層鉛皮包裹、軟件的輻射預(yù)警（儀器工作中人員誤操作開啟樣品腔時(shí)儀器會(huì)自動(dòng)全部斷電關(guān)機(jī)，保證操作人員安全），取得國(guó)家規(guī)定的輻射安全許可證，輻射劑量低于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。 濾光片：八種新型濾光片自動(dòng)選擇設(shè)定 樣品監(jiān)測(cè)系統(tǒng)： 30倍1500萬(wàn)像素彩色CCD攝像機(jī)，在軟件測(cè)試界面可實(shí)時(shí)觀察樣品狀態(tài)和放置樣品測(cè)試前微動(dòng)調(diào)整樣品位置，樣品測(cè)試完成后圖樣清楚呈現(xiàn)在測(cè)試報(bào)告中。 軟件系統(tǒng)： 定量分析計(jì)算，運(yùn)用理論Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法) 、集成FP、法經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，針對(duì)RoHS無(wú)鹵元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr，Cl）的精準(zhǔn)測(cè)試。多種語(yǔ)言操作界面，操作簡(jiǎn)單，一鍵式設(shè)計(jì)，可生成各種人性化定制報(bào)告，能夠自動(dòng)輸出PDF,EXCEL等報(bào)告格式。 額定功率：0.35kW 重量：50Kg 外形尺寸：650(W)×450(D)×450(H)mm 樣品腔尺寸：350(W)×300(D)×150(H)mm，大樣品蓋可進(jìn)行開蓋敞開測(cè)試。 *標(biāo)準(zhǔn)配置 Amptek Si-PIN探測(cè)器一套： 鎢靶特殊防輻射處理側(cè)窗型X射線管一支 美國(guó)Spellman高壓電源一支 全封閉鉛板雙樣品腔 高精密CCD攝像機(jī)一個(gè) Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)、集成FP、法經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法軟件一套 樣品盒一個(gè)，測(cè)試用樣品杯1個(gè)，測(cè)試用塑膠薄膜一卷 歐盟PE#標(biāo)樣一片、銀校正標(biāo)樣一片 儀器用電腦一套、打印機(jī)一臺(tái) | 
