光切法顯微鏡9J(雙管顯微鏡)光切法顯微鏡9J用途： 光切法顯微鏡9J是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度
光切法顯微鏡9J(雙管顯微鏡) | ||||||||||||||||||||||||||
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| 光切法顯微鏡9J用途： 光切法顯微鏡9J是以光切法測量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國家標準GB1031-1995所規定測量范圍1.0～80微米即原標準▽3～▽9級表面光潔度。對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。 光切法特點是在不破壞表面的狀況下進行的。是一種間接測量方法。即要經過計算后才能確定紋痕的不平度。 光切法顯微鏡9J規格：
測量不平度范圍： 0.8～80 μm 不平寬度 用測微目鏡： 0.7μm～2.5 mm 用坐標工作臺： 0.01～13 mm 儀器重量： 約23 ㎏ 外形尺寸： 約180×290×470 mm 光切法顯微鏡9J儀器成套性：
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