光學行業基準型儀器；標準實驗室標樣鑒定、光學、鍍膜、半導體、光伏、太陽能等行業
光學行業基準型儀器；
標準實驗室標樣鑒定、光學、鍍膜、半導體、光伏、太陽能等行業。
自帶光學平臺，防震系統，儀器在實驗室之間可以移動，反映光路穩定，不需要重新校準
| 切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定。 | ||
| 安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定。由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。 | ||
| 日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振。 |
| UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。 棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。 |
| 平行光束可實現反射光和散射光的準確測定。 | ||
| 入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。 | ||
| 儀器結構： | 雙光束 | 光譜帶寬： | 0.1nm |
| 波長準確度： | ±0.2nm | 雜散光(S.L.)： | ±0.00008%T |
| 波長范圍： | 175nm~3300nm | 自動程度： | 自動波長 |
| 波長范圍： | 紫外可見近紅外 | 接收器類： | 光電二極管陣列 |
| | | |
|
|
|
|
|
|
*您想獲取產品的資料：
個人信息：
