產品簡介INVENIO適用于幾乎所有應用領域及任何行業，從常規質量控制到的研發工作
INVENIO 適用于幾乎所有應用領域及任何行業，從常規質量控制到的研發工作。無論您專注于高效、精準或者必須符合規定，INVENIO總能支持您！
FT-IR 光譜儀
Flexible FT-IR.
Exactly as you need it.
覆蓋從遠紅、中紅外、近紅外到紫外/可見光譜區完整的光譜范圍
可實現光譜分辨率 < 0.085 cm-1
快速掃描，70張光譜/秒
應用步進掃描時間分辨測量可實現納秒級時間分辨
全新光路設計，實現高信噪比
多達7個由軟件控制的內部檢測器
多達2個輸入端口及3個輸出端口
大量豐富的附件，可匹配您的樣品
多種外部模塊，可應對高級測量設置
精準的電子器件，可進一步提高光譜質量
無二且令人振奮：MultiTectTM
INVENIO采用無二的檢測器技術，可支持多達5個自動室溫檢測器或熱穩定檢測器。這使得它無需更換任何硬件，即可覆蓋80 cm-1 - 6000 cm-1 或 4000 cm-1 - 28000 cm-1 的整個光譜范圍。加上額外的DigiTectTM 插槽（如用于液氮冷卻檢測器）和專用的TransitTM 檢測器，它最多可容納7個內部探測器。
布魯克FM：難以估量的價值
不間斷、簡單易懂且直觀明了：這就是布魯克FM。在一次實驗中，即可覆蓋從 80 cm-1 - 6000 cm-1 的中紅外和遠紅外光譜范圍，使得耗時費力的更換元件和合并光譜已成為歷史。
精準耐磨、盡享輕松：INTEGRALTM 干涉儀
新型無磨損的 INTEGRALTM干涉儀含三位分束器自動切換組件(BMS)，是布魯克MultiTectTM技術的搭檔。結合MultiTectTM多檢測器技術和多個全自動光源，從遠紅外到紫外/可見光 的 全光譜區 都可以全自動覆蓋，無需再手動更換任何元件。
時間分辨方法一覽
諸如步進掃描、快速掃描或布魯克專有的交叉掃描等時間分辨技術是研究和闡明快速動力學過程的關鍵。利用快速掃描，深入了解溶液中的化學反應，或利用步進掃描，在低至納秒尺度進行可重復的實驗，最終，絕大多數的問題都得到了解決。
的系統智能水平和不計其數的拓展
您的工作流程將能從一系列智慧功能中獲益，如電子編碼窗口、內部衰減輪、發射旁路、8位驗證輪和可選的觸摸操作。您還可以對INVENIO進行拓展升級，如顯微鏡、拉曼或PL模塊、TGA聯用、外部樣品腔等。
探索、開發、開拓
INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時間分辨率、穩定性、靈活性和可升級性的情景，從而改善您在工業或研究應用領域的日常分析體驗。
材料表征
揮發性成分的測定
分解過程表征
光學材料表征
質量控制
原料驗證
產品缺陷故障排除
識別未知污染物
半導體
硅晶圓中氧和碳含量測定
近紅外光譜范圍的光致發光測量
研發
時間分辨光譜學
傅立葉變換紅外光譜電化學
低溫實驗
傅立葉變換紅外顯微及化學成像
原位反應監測
幅度調制（AM）光譜
制藥與生命科學
評估醫藥產品的穩定性和揮發物含量
區分活性藥物成分的多晶型
蛋白質構象和濃度
微生物鑒定
聚合物和化學品
識別聚合物復合材料中的無機填料
識別無機礦物質和色素
多層分析
配方研究
反應監測和反應控制
聚合物動態和流變-光學研究
傅立葉變換拉曼在各領域的應用
環境
污染監測（如微塑料）
土壤表征
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