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美國CRAIC顯微光譜分析系統FLEX

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產品詳情美國CRAIC發布的FLEX光譜儀集成系統為紫外-可見-近紅外顯微光譜學設定了一個新的標準

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產品詳情

      美國CRAIC發布的FLEX光譜儀集成系統為紫外-可見-近紅外顯微光譜學設定了一個新的標準。使用技術的FLEX不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發或其他光源類型下的光譜,還同時提供了數字成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外,同時也提供全波段的成像。具備的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數設置、簡單易用、能長時間穩定工作等優良特性。FLEX是工廠產品檢測以及實驗室樣品分析的工具。

                                                   

    FLEX集成了紫外-可見-近紅外(200-2200nm光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統于一身,同時光譜儀和數字成像系統都使用了的顯微鏡光路系統。高靈敏度的固態陣列檢測器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比,并保證設備能長時間穩定地工作。高分辨率的數字成像系統在用于紫外、近紅外以及可見光波段的彩色成像。多種類型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源,類型包括透射光、反射光、熒光等,偏振光和拉曼激光也可以根據用戶需求提供。精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數字成像系統,還同時提供了分析功能,甚至包括薄膜厚度測量。




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