公司介紹
美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史,是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品,解決了目前市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題,如光學(xué)方法必須要對樣品進(jìn)行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復(fù)雜體系無法給出真實(shí)的粒度分布等 。目前,美國MAS多功能超聲粒度分析儀儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成,可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波,由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同, 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細(xì)準(zhǔn)確的粒度分布。
典型應(yīng)用:
綜合穩(wěn)定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。
主要特點(diǎn):
1)能分析多種分散物的混合體;
2)無需依賴Double Layer模式,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
5)可準(zhǔn)確測量無水體系;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;
8)具有自動電位滴定功能;
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)被測樣品無需稀釋;
2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
3)不需定標(biāo);
4)能分析多種分散物的混合體;
5)高精度;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
多功能超聲粒度儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需定標(biāo);
2)能測更寬的粒徑范圍;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
6)可適用于無水體系;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%;
2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv);
5)electrosmotic flow不影響測量;
6)對流(convection)不影響測量;
7)可準(zhǔn)確測量無水體系;
多功能超聲粒度儀
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;
2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減;
3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
6)樣品體積:30-230ml;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m