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泰思肯MAGNA新一代超高分辨場發射掃描電鏡

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MAGNA新一代超高分辨場發射掃描電鏡

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產品簡介:

TESCAN MAGNA是一款功能極其強大的分析儀器,適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。MAGNA配置 Triglav™  SEM 鏡筒,具有超高的分辨率,在低電壓下尤為明顯;鏡筒內探測器系統具有電子信號過濾能力,可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度,非常適用于不導電樣品的成像,如陶瓷、無涂層生物樣品,以及在半導體光敏樣品等。

產品特點

  • *的實時電子束追蹤技術(In-flight Beam Tracing™)功能,可設置優化束斑尺寸和束流強度。
  • *的TriBETMTriSETM In-Beam探測器系統,實現更*的納米尺度表征。
  • TESCAN Essence™便利的電鏡操作軟件。
  • 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴展分析附件,如EDS、EBSDCL、Raman聯用。


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