蔡司ZEISS T-SCAN 手持式三維掃描儀
產品詳情 Product Information
由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN CS的應用,使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標測量技術中進入全新的高度。全面革新且一體化的設計理念,包括完美匹配的輔助裝置(跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測頭),為種類繁多的應用提供了大的靈活性。高性能的軟件平臺colin3D能夠在整個測量過程中,始終如一地保持高效并始終堅持以項目為導向的操作過程。
面向用戶的、人性化的系統設計和易于操作的高效數據采集
ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設計*符合人體工學原理。可根據操作者的需求量身定制,保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由于配備了重量輕、結構緊湊的測頭,該系統非常適合于數據捕獲,即使難以到達的區域也不例外。
的技術特性,例如,針對各種對象的表面進行高動態范圍內的數據采集,而其所具有的迄今不可見的數據速率可以達到*的掃描速度并得到精確的測量結果。
手持式測頭進行快速點測量
ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點,使其成為在物體區域內進行單點測量的完美解決方案,如(修剪)邊緣和規則的幾何形狀。該裝置可與傳統的測頭一起使用,測頭更換更加簡單、快速。
動態參考
即使在移動的物體上也能得到高精密的三維數據記錄,通過采用動態參考功能,在惡劣的環境條件下可以獨立執行測量工作,如振動(生產環境中,例如沖壓車間或
加工部件:對移動車門的密封進行測量)。
通用軟件接口
從數據采集到數據處理,至數據比較 - ZEISS T-SCAN系統可以通過眾多直接的實時接口進行控制。因此,可以輕松集成到現有的工藝流程中。
用于不同的測量體積的光學跟蹤系統
從小型到大型的物體 - 系統配置“CS+”和“LV”,為您的個人測量應用提供理想解決方案。
ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現的靈活性、ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀
ZEISS T-TRACK CS +光學跟蹤系統與所有其他系統組件進行優化匹配,因此開辟了廣泛的測量應用領域。
*的數據處理速率使測量具有的速度,有利于大限度地減少物體掃描過程的時間。
通過采用創新型掃描和跟蹤相結合的*大范圍測量,您將在光學三維數字化中獲得全新的視角。
現在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數據-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達35立方米的跟蹤范圍,為您進行有效的測量處理提供大可能的運動自由。
蔡司T-SCAN的技術數據
蔡司T-SCAN | |
測量深度 | +/- 50毫米 |
行寬 | 大125毫米 |
平均工作距離 | 150毫米 |
線路頻率 | 高達330赫茲 |
數據速率 | 210.000點/秒 |
重量 | 1100克 |
傳感器尺寸 | 300 x 170 x 150毫米 |
蔡司T-TRACK CS + | 蔡司T-TRACK 20 | 蔡司T-TRACK LV | |
測量距離:物鏡相機 | 2.0米 - 4.0米 | 2.0米 - 6.0米 | 1.5米 - 7.5米 |
測量量 | 6.3 m 3 | 20米3 | 35米3 |
視野 | 高達2466 mm x 2178 mm | 高達3200 mm x 2500 mm | 高達3700 mm x 2600 mm |
測量率 | 4 kHz | 4 kHz | 4.5 kHz |
外形尺寸 | 1150 x 180 x 150毫米 | 1150 x 180 x 150毫米 | 1157 x 230 x 175毫米 |
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