由于手持式激光掃描儀ZEISS T-SCAN  CS的應用，使得快速、直觀和高度精確的3D掃描在坐標測量技術中進入全新的高度。全面革新且一體化的設計理念，包括完美匹配的輔助裝置（跟蹤儀、手持式掃描儀和接觸式測頭），為種類繁多的應用提供了大的靈活性。高性能的軟件平臺colin3D能夠在整個測量過程中，始終如一地保持高效并始終堅持以項目為導向的操作過程。

面向用戶的、人性化的系統設計和易于操作的高效數據采集

ZEISS T-SCAN激光掃描儀的設計*符合人體工學原理。可根據操作者的需求量身定制，保證了掃描過程直觀、無疲勞感。由于配備了重量輕、結構緊湊的測頭，該系統非常適合于數據捕獲，即使難以到達的區域也不例外。

的技術特性，例如，針對各種對象的表面進行高動態范圍內的數據采集，而其所具有的迄今不可見的數據速率可以達到*的掃描速度并得到精確的測量結果。

ZEISS T-SCAN:用手持式激光掃描儀快速、直觀的捕獲三維數據

手持式測頭進行快速點測量

ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點，使其成為在物體區域內進行單點測量的完美解決方案，如（修剪）邊緣和規則的幾何形狀。該裝置可與傳統的測頭一起使用，測頭更換更加簡單、快速。

手持式測頭ZEISS T-POINT - 理想的便攜式坐標測量機， 便于單點測量

動態參考

即使在移動的物體上也能得到高精密的三維數據記錄，通過采用動態參考功能，在惡劣的環境條件下可以獨立執行測量工作，如振動（生產環境中，例如沖壓車間或
加工部件：對移動車門的密封進行測量）。

通用軟件接口

從數據采集到數據處理，至數據比較 - ZEISS T-SCAN系統可以通過眾多直接的實時接口進行控制。因此，可以輕松集成到現有的工藝流程中。

ZEISS colin3D軟件支持高效的工作流程

用于不同的測量體積的光學跟蹤系統

從小型到大型的物體 - 系統配置“CS+”和“LV”，為您的個人測量應用提供理想解決方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現的靈活性

ZEISS T-TRACK CS +光學跟蹤系統與所有其他系統組件進行優化匹配，因此開辟了廣泛的測量應用領域。

*的數據處理速率使測量具有的速度，有利于大限度地減少物體掃描過程的時間。

ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀

通過采用創新型掃描和跟蹤相結合的*大范圍測量，您將在光學三維數字化中獲得全新的視角。

現在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數據-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達35立方米的跟蹤范圍，為您進行有效的測量處理提供大可能的運動自由。

應用范圍廣泛

質量控制/檢驗

- 比較CAD數據

- 邊界/邊緣提取（鈑金件）

- 與生產有關的檢查

模具和模具制造

- *重建

- 用于生成銑削*路徑的掃描數據

- *釋放時的實際3D數據文檔

- 復雜焊接結構的檢驗

- 設置儀表和安裝夾具

快速制造

- 三維數據掃描用于快速成型

逆向工程

- 高度復雜幾何形狀測量的逆向工程

設計

- 設計模型的掃描，用于進一步處理CAD數據、文檔

- 特征線的捕獲

- 基面（對齊）的快速掃描

復雜組件的動態捕獲，例如裝夾過程

考古學、藝術/歷史文物的掃描

醫療技術應用（動作捕捉等）

ZEISS T-SCAN-技術數據手持式激光掃描儀