Zeta100電位納米粒度分子量分析儀是丹東百特儀器有限公司研發的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩定性的儀器。

Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

集Zeta 電位、 納米粒度、 分子量三項測試于一體的納米分析儀器

一、產品介紹

        Zeta100電位納米粒度分子量分析儀是丹東百特儀器有限公司研發的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩定性的儀器。

        Zeta電位測量采用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta>電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩定。納米粒度分布采用動態光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快于較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度，利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。分子量測量采用靜態光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強，繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

二、主要技術指標與性能

• Zeta電位測試

• 粒度分布測試

• 分子量測試 

三、主要應用領域

        包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質、聚合物膠乳、藥物制備、水/ 油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應用等領域。

四、突出特點

• BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩定。
• 納米粒度分布測量采用動態光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快于較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度，利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。
• 分子量測量采用靜態光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強，繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

五、良好的重復性

• 穩定的折疊光路系統
• 高速數據采集與轉換模塊
• 高精度樣品池定位組件

六、良好的準確性

• 粒度測試準確性：用100nm 標準樣品測試，結果為101nm，誤差范圍為1%，遠遠小于標準ISO13321 允許誤差10% 的要求。

• Zeta 電位測試準確性：用-55mv 標準樣品測試，結果為-59.7994mv，誤差范圍為8.7%，小于標準ISO13099 允許誤差10% 的要求。

• 分子量測試