橢偏儀SpecEL

SpecEL-2000-VIS 橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEL 通過PC 控制來實現折射率，吸光率及膜厚的測量。

橢偏儀SpecEL

SpecEL-2000-VIS 橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEL 通過PC 控制來實現折射率，吸光率及膜厚的測量。

集成的精確測量系統

SpecEL- 由一個集成的光源，一個光譜儀及兩個成70° 的偏光器構成， 配有一個32 位操作系統的PC。該橢偏儀可測量0.1nm-5um 厚的單膜， 并且折射率測量可達0.005%。

SpecE1 軟件及Recipe 配置文件

通過SpecEL 軟件，您可以配置及存貯實驗設計方法用于1 步分析。創建recipe 后，可以選擇recipe 來執行實驗。SpecEL 軟件截圖顯示的Psi 及Delta 值可以用來計算厚度，折射率及吸光率。

特點

-- 膜厚測量精度高達0.1 nm，分辨率可達1nm
-- 可以測量zui多25 層膜
-- 單層膜可以測量zui大厚度10um
-- 光譜范圍 300-1000nm
-- 標準測量點尺寸0.4mmx1.2mm
-- 適合測量平面，半透明的樣品，例如晶圓，玻璃，膠片和金屬薄片
-- 提供3D 繪圖附件，參考晶圓等選項—可以定制方案
-- 配套軟件提供了建模功能和測量模型，可以減少繁瑣的重復測量。還可以提供用于膜厚繪圖的測量軟件。
厚度范圍：1nm-10μm
分辨率：0.1nm
測量速度：7-13秒
樣品厚度：5mm（zui大）
光學分辨率：1.0nm
射束直徑：400-1200μm
角度：70°