賽默飛 ELEMENT2/XR 電耦合等離子體質譜儀
可以同時分析周期表中的幾乎所有元素，濃度范圍從mg/L到pg/L ；兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。

賽默飛 ELEMENT2/XR 電耦合等離子體質譜儀利用高分辨率直接分析有干擾的同位素；的確信不含干擾的元素圖譜；瞬時信號的多元素檢出器；并能與多種進樣和分離技術聯用，例如激光進樣。目前，已經安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺，服務于環境監測、核科學、地球科學、材料科學等各個領域。

賽默飛 ELEMENT2/XR 電耦合等離子體質譜儀是獲得認可的痕量元素分析和定量的高效技術。 其應用范圍從半導體工業到地質和環保分析、從生物研究到材料科學。 ICP-MS嚴重的限制是元素信號的多原子干擾，這種干擾主要來自氬或樣品基質。 高質量分辨率是識別和消除干擾的良好標準。 即使沒有樣品制備步驟，消除干涉也能準確可靠地進行痕量級多元素定量分析。

ELEMENT XR主要特點：

●線性范圍寬：線性范圍達12個數量級，不同模式自動切換校正；

●靈敏度高：可使用賽默飛全新的Jet接口技術，提供的靈敏度；

●具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質譜干擾的同位素。

ELEMENT 2主要特點：

1、具備多元素分析能力

●多元素檢測器具備處理瞬態信號（包括CE、HPLC、GC、FFF和激光燒蝕）的速度

●從超痕量到基質組分、從mg/L到亞pg/L濃度范圍的覆蓋周期表的無干擾測量

●與無機和有機固體以及幾乎所有溶液基質兼容

2、全自動的常規分析

●自動調節所有參數，包括透鏡、氣流和炬位，以獲得可重復而可靠的系統設置

●全面、可定制的質量控制系統

●可靠耐用，可作為全年無休的生產控制工具，大化樣品通量

3、具有靈活性和易用性的*研究工具

●擁有權限進入方法開發的所有儀器參數

●具有高質量分辨率，可識別受干擾的同位素光譜： 生成明確的元素光譜

●無論是否存在干擾情況，也能獲得高精度的同位素比檢測

●熱和冷等離子體狀態

●高穩定性的同位素比