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HAD-2722 半導體粉末電阻率測試儀

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HAD-2722型半導體粉末電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。
儀器組成: 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大部分組成。
主機 是整個系統電氣控制顯示核心部分,主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統單元以及壓力厚度顯示單元組成。

詳細信息 在線詢價

1.半導體粉末電阻率測試儀,粉末電阻率儀 型號;HAD-2722
概述
HAD-2722型半導體粉末電阻率測試儀是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。
儀器組成: 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大部分組成。
主機 是整個系統電氣控制顯示核心部分,主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統單元以及壓力厚度顯示單元組成。
粉末測試臺 是連接測試主機,用來裝夾半導體粉末(含高分子粉末和金屬粉末等),進行壓力施加(壓片),并同步進行電阻率測試的裝置(以下簡稱測試臺)。
    測試臺為粉末標準容器、電極、加壓機構、壓力檢測、厚度檢測、連接線纜等單元組成。
優勢特征:測試臺,符合國標和行業規范,國內,并獲國家。有兩款。
四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有關國標和行業標準。采用通用的電流、電壓四端子測量法(儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨立回路連至電極同時和樣品接觸),可以消除電極與連接導線導通電阻產生的誤差,克服了傳統的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病,可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率,因此重復性也好。
四探針法測試臺符合符合GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正極材料》
中關于粉末電阻率測試的原理和規范,參照GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M 標準。
四探針法同步壓力連續測試粉末“電阻率-壓強曲線,”
行業,行業推薦粉末電阻率標準測試方式。
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校功能;電壓電流全自動轉換量程;測試結果由數字表頭直接顯示。
壓力機構采用手動操作,壓力(壓強)平穩可調、可保持。電子傳感器自動同步檢測、顯示壓力(壓強)值和樣本高度。故本測試臺可一邊加壓一邊同步測試電阻率,可方便測繪粉末樣品“電阻率-壓強”的性能曲線;也可以單獨作為粉末壓制成片的工具使用,成片后可脫模取出,用普通四探針法測試相關參數!
本測試儀配有成套PC軟件,故不但可以單獨(脫機)操作,還可以連接PC軟件,自動保存當前測試數據、查詢并統計分析歷史數據、打印測試報告等!
本儀器具有測量精度高,操作簡便、穩定性好,重復性好,一機多用使用方便等特點。也是區別于以往舊款同類測試臺新特點! 本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研、是檢驗和分析固態和粉態樣品質量的一種重要優良工具。

三、半導體粉末電阻率測試儀參數
1. 電阻率測量范圍、分辨率
電 阻 率:     15.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm  分辨率1.5×10-6 ~ 0.1×103  Ω-cm
             (1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×101  Ω-cm)

電阻率量程劃分及誤差等級

滿度顯示

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

20.00

很大拓展量程

KΩ-cm

Ω-cm

mΩ-cm

基本誤差

±2%讀數±4字

±1.5%讀數±4字

±0.5%讀數

±2字

±0.5%讀數

±4字

3. 數字電壓表:
⑴量程:10mV ~ 100 mV,自動
⑵顯示: 4位有效數字,很大顯示999.9     小數點、單位自動顯示
4. 數控恒流源
電流輸出:直流電流0.1µA~1000mA可調,系統自動步進調整。
5.粉末測試臺部分參數:
(1)、試樣成份:成份不限,但不得含有對測試臺和電極有腐蝕作用的成份。
(2)、試樣粒度:標準以40目以下—60目以上(標準篩網),一般其他粒度也可!
(3)、試樣容器:內徑:Φ11.28mm(S=1.0cm2)
高度:0~20mm可調,帶高度傳感器監測,測量誤差:±0.05mm。
(4)、測試壓強
標準壓強:P0=4Mpa±0.05Mpa。
     壓強量程:20Mpa, P=0~20 Mpa可調。
 (5)、壓力機構采用手動操作、壓力平穩可調。
四位有效顯示數00.00~20.00MPa,分別率±0.01 MPa。
6.測試儀外形與重量
前寬×長×總高=250mm×220 mm×540mm
重          量=10Kg
7. 電源:
功 耗:< 10W
輸入:220V±10%   50Hz
8. 本儀器工作條件為:
溫    度:    0-40℃
相對濕度:    ≥60%
工作室內應無強電磁場干擾,不與高頻設備共用電源

 

 

 

 

 

2.液體介質體積電阻率測定儀 液體介質體積電阻率儀 型號:JX1-XZR-10A

液體介質體積電阻率測定儀,用于測定液體介質的體積電阻率,也可測固態電阻。

·采用雙CPU控制,彩色液晶觸摸屏。四個Y18油杯.其中三杯用于做絕緣油,一杯油樣做抗燃油。

·附加電子制冷裝置,控溫精度更高
·自動打印實驗結果
· 環境溫度15℃~25℃,相對濕度≤70%,供電電壓AC/220V±10%,50HZ,消耗功率≤500W
·測試范圍0.5X10 ~499X10 Ω.Cm,控溫范圍20℃~100℃
·測量誤差≤±10%,控溫精度≤±0.5℃

 

 

 

 

3.體積表面電阻率測定儀/玻璃電阻率測定儀/絕緣材料電阻率測定儀 型號:HAD-121

 

一、概述

    本儀器既可測量高電阻,又可測微電流。采用了美國In公司的大規模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準確度高。數字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國內測量范圍很寬,準確度很高的數字超高阻測量儀。電流測量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機內測試電壓為10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調。本儀器具有精度高、顯示迅速、性好穩定、讀數方便, 適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。

二、主要特點

電阻測量范圍寬  1×104Ω ~1×1018Ω  

電流測量范圍為 2×10-4A ~1×10-16

體積小、重量輕、準確度高

所有測試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測試時電阻結果直讀,免去老式高阻計在不同測試電壓下或不同量程時要乘以系數等使用不便的麻煩,使測量超高電阻就如用表測量普通電阻樣簡便。

既能測超高電阻又能測微電流

三、指標 

1、電阻測量范圍: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。

2、電流測量范圍為: 2×10-4A~1×10-16A

3、顯 示 方 式: 32LED液晶屏顯示

4、內置測試電壓: 10V 50V100V2505001000V

5、基本準確度:1% (*)

6、使用環境: 溫度:0℃~40℃,相對濕度<80%

7、機內測試電壓: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切換

8、供電形式: AC 220V50HZ,功耗約5W

9、儀器尺寸: 285mm× 245mm× 120 mm

10、質量: 約2.5KG

四、工作原理

   根據歐姆定律,被測電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統的高阻計的工作原理是測量電壓V固定,通過測量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出,由于電流I是與電阻成反比,而不是成正比,所以電阻的顯示值是非線性的,即電阻無窮大時,電流為零,即表頭的零位處是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整個刻度是非線性的。又由于測量不同的電阻時,其電壓V也會有些變化,所以普通的高阻計是精度差、分辨率低。

本儀器是同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I,通過內部的大規模集成電路完成電壓除以電流的計算,然后把所得到的結果經過A/D轉換后以數字顯示出電阻值,即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時變化,其顯示的電阻值不象普通高阻計那樣因被測電壓V的變化或電流I的變化而變,所以,即使測量電壓、被測量電阻、電源電壓等發生變化對其結果影響不大,其測量精度很高(),從理論上講其誤差可以做到零,而實際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

 

典型應用

1、測量絕緣材料電阻()

2、測量防靜電材料的電阻及電阻率

3、測量計算機房用活動地板的系統電阻值

4、測量防靜電鞋、導電鞋的電阻值

5、光電二極管暗電流測量

6、物理,光學和材料研究

標準配置: 

1、測試儀器:1

2、.電源線:1

3、測量線:3根(屏蔽線、測試接線、接地線)

4、使用說明書:1

備注:

本儀器配不同的測量電極(夾具)可以測量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導率,符合國家標準GB14102006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法 等標準要求。此產品由我公司自行研發創建電阻和電阻率雙向顯示。無需再計算

 

 

 

 

 

4.便攜式四探針測試儀/四探針檢測儀/電阻率檢測儀 型號:HAD-TS-2

測量范圍寬、精度高、穩定性好、結構緊湊、易操作的便攜式
 體積僅為:125mm(寬)*145mm(高)*245mm(深)
 
 
  HAD-TS-2/TS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而的,于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
    儀器采用了電子進行、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。如有需要可加配測試臺使用。
    本儀器廣泛應用于太陽能單晶(多晶)廠家為硅材料的分選測試,半導體材料廠、半導體器件廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。

技 術 指 標  

便攜式四探針測試儀按測量范圍可選配HAD-TS-2型或HAD-TS-2A型,區別:測量范圍不一樣。

 

 HAD-TS-2測量范圍

 電阻率:0.011999.9Ω.cm  
 方塊電阻:0.119999Ω/□ 

 HAD-TS-2A測量范圍

 電阻率:0.001199.99Ω.cm  
 方塊電阻:0.011999.9Ω/□ 

HAD-TS-2恒流源

 電流量程分為100μA1mA兩檔,各檔電流連續可調

HAD-TS-2A恒流源

 電流量程分為1mA10mA兩檔,各檔電流連續可調

數字電壓表

 量程及表示形式:000.00199.99mV;    
 分辨力:10μV
 輸入阻抗:>1000MΩ
 精度:±0.1%
 顯示:四位半紅色發光管數字顯示;極性、超量程自動顯示;

四探針探頭基本指標

 間距:1±0.01mm
 針間絕緣電阻:≥1000MΩ 
 機械游移率:≤0.3%
 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm
 探針壓力:516 牛頓(總力)

四探針探頭應用參數

 (見探頭附帶的合格證)

模擬電阻測量相對誤差
( JJG508-87進行)

 1Ω10Ω100Ω小于等于0.3%±1

整機測量很大相對誤差

(用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5%

整機測量標準不確定度

 ≤5%

外型尺寸

 125mm()*145mm()*245mm()

標準使用環境

 溫度:23±2
 相對濕度:≤65%
 無高頻干擾;
 無強光直射;

 

 

 

 

 

 

5.點對點電阻率測試儀/點對點電阻率檢測儀  型號:HAD-613

用途

用于檢測防靜電工作服點對點電阻率,適用于*和B級防靜電工作服。本原理是對試樣加入測試電壓100 V 共15 s,流經試樣的微弱電流用標準電阻取樣放大后,從高阻計上讀出。數字直接顯示出電阻值,精度高、顯示迅速、穩定性好、讀數方便。

特點:

1、儀器規格:主機:252mm×265mm×100mm;
       絕緣試驗臺:1000mm×600mm
2、測試部分由電極和導電橡膠
3、擺放位置:實驗臺(或桌面)

量程:

1、量程范圍: 105  Ω~1013 Ω;
2、高阻計示值誤差:±1%,
3、電壓:100V DC

國家標準GB12014- 2009《防靜電服》

 

 

 

溫馨提示:以上產品資料和圖片全都是按照順序相對應的

北京恒奧德儀器儀表有限公司

|

手機:15811023934

聯系人:李海萍

電話:86-10-51655247

傳真:86-10-57553286

(聯系我時,請說明是在儀器網上看到的,謝謝!)

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