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X熒光鍍層測厚儀 CMI900

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具體成交價以合同協議為準

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X熒光鍍層測厚儀簡介精度高、穩定性好 強大的數據統計、處理功能 測量范圍寬 NIST認證的標準片 服務及支持

詳細信息 在線詢價

X熒光鍍層測厚儀技術參數

主要規格
X熒光鍍層測厚儀規格描述
X射線激發系統
垂直上照式X射線光學系統
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統
*多可同時裝配6種規格的準直器
多種規格尺寸準直器任選:
-圓形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸
在12.7mm聚焦距離時,*小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時,*大測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室
CMI900
CMI950
-樣品室結構
開槽式樣品室
開閉式樣品室
-*大樣品臺尺寸
610mm x 610mm
300mm x 300mm
-XY軸程控移動范圍
標準:152.4 x 177.8mm
還有5種規格任選
300mm x 300mm
-Z軸程控移動高度
43.18mm
XYZ程控時,152.4mm
XY軸手動時,269.2mm
-XYZ三軸控制方式
多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統
高分辨彩色CCD觀察系統,標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。
激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計算機系統配置
IBM計算機
惠普或愛普生彩色噴墨打印機
分析應用軟件
操作系統:Windows2000中文平臺
分析軟件包:SmartLink FP軟件包
-測厚范圍
可測定厚度范圍:取決于您的具體應用。
-基本分析功能
采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測,如Au karat評價
材料和合金元素分析,
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
-調整和校正功能
系統自動調整和校正功能,自動消除系統漂移
-測量自動化功能
鼠標激活測量模式:“Point and Shoot”
多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
測量位置預覽功能
激光對焦和自動對焦功能
-樣品臺程控功能
設定測量點
連續多點測量
測量位置預覽(圖表顯示)

-統計計算功能
平均值、標準偏差、相對標準偏差、*大值、*小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
數據庫存儲功能
任選軟件:統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
-系統安全監測功能
Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統多級密碼操作系統:操作員、分析員、工程師


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