半導體X-RAY檢測設備 X-7900可以檢測半導體3um的缺陷、一鍵測量汽包大小及空洞率，并可以將缺陷幾何放大400X，檢測圖像系統放大2500X。
Product Introduction
| 功能 | CNC程序：自動批量檢測樣品不同位置 |
| 陣列功能：自動批量檢測位置固定、間距相同樣品 | |
| 氣泡測量：一鍵測量氣泡大小、空洞率 | |
| 長度、寬度測量：測量部分檢測區域長度、寬度 | |
| 可視化導航界面：檢測位置精準定位 | |
| 模擬顏色：更好觀察檢測圖像 | |
| 優勢 | 在線式自動 ON/OFF X-RAY光管批量檢測樣品 |
| 搭配130KV濱松X-RAY光管，檢測精度達3um | |
| 高分辨率數字X-RAY平板，1536*1536px圖像更清晰 | |
| 幾何放大450x，系統放大2000x | |
| 540*540mm載物臺可容納大量各種尺寸樣品 | |
半自動的NG/OK產品檢測 | |
| 允許60°傾斜觀測 |
Product Introduction
| Model: | X-7900 |
| X-ray 光管類型 | 封閉式 |
| 空間分辯率 | 3um |
| 光管電壓 | 130KV（可選90KV） |
| 光管電流 | 300uA |
| 放大倍率 | 幾何放大400倍，系統放大2500倍 |
| 數字平板探測器分辯率 | 1536*1536 像素 |
| 數字平板探測器密度值 | 14bit （16348） |
| 圖像速度 | 30（FPS) |
| 平板旋轉角度 | 60 ° |
| 載物臺尺寸 | 540*540mm |
| 載物臺旋轉 | 360°（可選） |
| X-Y 行程 | 980*980mm |
| 檢測范圍 | 510*510mm |
| 機器尺寸 | 1350*1110*2000mm（L*W*H) |
| 機器重量 | 1050KG |
| 操作系統 | WINDOWS 10 |
| 電源/功率 | AC110-220V 50-60HZ 1200W |
| 輻射安全測試 | <1 uSV/H |
Product Introduction
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