半導體中空玻璃露點儀是根據中華人民共和國國定標準GB/T11944-2002《中空玻璃》設計研制的中空玻璃專用的檢測儀器

半導體中空玻璃露點儀是根據中華人民共和國國定標準GB/T11944-2002《中空玻璃》設計研制的中空玻璃專用的檢測儀器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露點檢測。廣泛用于玻璃深加工企業的質量控制和各級質量監督檢測部門。HGx工程檢測儀器網
儀器結構與工作原理HGx工程檢測儀器網
本儀器由低溫測試頭和制冷機組組成，通過測試頭和被檢測樣品的緊密接觸，使樣品表面局部冷卻，當達到一定溫度后，內部水氣在冷點部分結露或結霜。露點儀主要檢測樣品在某一溫度下是否結露或結霜。HGx工程檢測儀器網
規格及主要技術參數HGx工程檢測儀器網
1、低溫測試頭表面直徑：50mm。HGx工程檢測儀器網
2、測溫范圍：-45-0℃ 準確度：0.5%HGx工程檢測儀器網
3、工作電壓：220伏HGx工程檢測儀器網
4、使用環境：溫度0-50℃ HGx工程檢測儀器網
設備清單HGx工程檢測儀器網
1．制冷主機 1套HGx工程檢測儀器網
2．低溫測試頭 1個HGx工程檢測儀器網
3．真空吸盤 1個HGx工程檢測儀器網
4．產品合格證 1份HGx工程檢測儀器網
5．產品說明書 1份HGx工程檢測儀器網