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ZJD高頻介電常數介質損耗測試儀

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具體成交價以合同協議為準

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產品詳情1、產品適用范圍適用于絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等2、產品圖片(僅供參考,以實物為準) 3、特點●雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。●雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入

詳細信息 在線詢價

產品詳情


1、產品適用范圍

適用于絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

2、產品圖片(僅供參考,以實物為準)


 

 

 

3、特點

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。

●計算機自動修正技術和測試回路0優化 —使測試回路 殘余電感減至0低, 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

●電感測試時,設備自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能,提高了電感值(特別是小電感值)測量的精度。此功能為北京智德創新公司生產的Q*

4、技術參數


ZJD高頻介電常數介質損耗測試

型號

ZJD-B

ZJD-A

ZJD-C

信號源范圍DDS數字合成信號

10KHZ-70MHz

10KHZ-110MHz

100KHZ-160MHz

信號源頻率覆蓋比

7000:1

11000:1

1600:1

信號源頻率精度 6位有效數

3×10-5 ±1個字

3×10-5 ±1個字

3×10-5 ±1個字

Q測量范圍

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

1-1000自動/手動量程

Q分辨率

4位有效數,分辨率0.1

4位有效數,分辨率0.1

4位有效數,分辨率0.1

Q測量工作誤差

<5%

<5%

<5%

電感測量范圍 4位有效數,分辨率0.1nH

1nH-8.4H , 分辨率0.1nH

1nH-8.4H  分辨率0.1nH

1nH-140mH分辨率0.1nH

電感測量誤差

<5%

<5%

<5%

調諧電容

主電容30-500pF

主電容30-500pF

主電容17-240pF

電容直接測量范圍

1pF~2.5uF

1pF~2.5uF

1pF~25nF

調諧電容誤差

分辨率

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

±1 pF或<1%

0.1pF

諧振點搜索

自動掃描

自動掃描

自動掃描

Q合格預置范圍

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動/手動

自動/手動

自動/手動

LCD顯示參數

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

F,L,C,Q,Lt,Ct波段等

自身殘余電感和測試引線電感的
自動扣除功能(*)

大電容值直接測量顯示功能

測量值可達2.5uF

測量值可達2.5uF

測量值可達25nF

5、結構概述


高頻介電常數介質損耗測試由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,介電常數及介質損耗測試系統的主機則是一臺阻抗測量設備(高頻Q表)。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到

 




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