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- 公司名稱 北京中智核安科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/5/20 16:50:15
- 訪問次數(shù) 61
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圖1 軟件界面 圖2 軟件計算結(jié)果
一、產(chǎn)品簡介
γ探測器的效率刻度方法主要有兩種,一是相對測量方法,二是無源效率刻度方法。在退役核設(shè)施放射性測量、放射性工作場所測量、核事故應急中污染物放射性快速測量、人體器官放射性測量、生物樣品放射性快速測量、放射性廢物非破壞性測量等領(lǐng)域,很難采用借助標準源的相對測量方法獲得效率刻度因子。
無源效率刻度軟件NaI-Calibration是用于NaI γ射線探測器無源效率刻度的產(chǎn)品,它采用數(shù)值方法計算γ光子的輸運過程,在此基礎(chǔ)上得到效率刻度因子,幾何和材料建模能力強大,計算精度高,速度快,界面簡單,使用方便。由于是采用理論計算方法,因此,對于復雜幾何形狀和成分的放射源都可以快速地獲得效率刻度曲線。NaI-Calibration克服了相對測量方法的缺點,同時避免了標準源的使用和管理,極大地拓展了NaI探測器的適用范圍,提高了NaI探測器的定量分析能力。
NaI-Calibration是在解決兩個關(guān)鍵技術(shù)的基礎(chǔ)上研制成功的NaI無源效率刻度軟件,一是光子在探測器中的能量沉積計算,二是探測器中產(chǎn)光效率和光收集效率的表征方法。光子在探測器中的能量沉積部分具備一般的無源效率刻度軟件的優(yōu)點,即可視化建模功能,對于任意組分材料和任意屏蔽物,精密化計算能量沉積功能;探測器表征方面通過實驗測量得到點源在不同位置的能量沉積,然后反演出探測器的產(chǎn)光效率和收集效率隨能量變化曲線。NaI-Calibration經(jīng)過了不同形狀、不同活度的體源效率測量的考核。
二、NaI-Calibration的性能
三、中智核安科技有限公司提供的服務
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