quanmian升級
XU-100 X熒光光譜測厚儀
高精尖jiance技術，搞定企業品質管控！
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發生器和高集成垂直光路系統，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?jiance各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，zui小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。
應用行業：
電鍍層分析
緊固件行業
五金行業
汽車零部件
配飾厚度分析
電子元器件
……
常見樣品：
緊固件?ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe
五金制品?Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe
電子元器件?Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu?
汽車零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS?
配飾首飾?Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu
散熱片NiP/Al
……
為什么選擇XU-100？
1.下照式設計?
可以快速方便地定位對焦樣品。?
2.高精密微型移動滑軌
快速精準定位樣品。
3.?微焦X射線裝置
?zui小jiance面積可達0.2mm2的樣品，可進行各類電鍍層膜厚jiance。?
gaoxiao率正比接收器即使測試0.2mm2的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
4.?變焦裝置算法
?可對各種異形凹槽進行jiance，凹槽深度測量范圍可達0-30mm。?
5.的EFP算法
?多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的jiance，都可以快、準、穩的做出數據分析。?
