Apero 2-超高分辨場發射掃描電鏡【產品描述】Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發射掃描電鏡搭載的實時元素成像功能和的自動光學系統,實現灰色區域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于研究本身。
Apero 2-超高分辨場發射掃描電鏡
【產品描述】
Thermo Scientific Apreo 2 SEM高性能場發射掃描電鏡搭載的實時元素成像功能和的自動光學系統,實現灰色區域解析,讓您不再憂心顯微鏡性能,更加專注于研究本身。
Thermo Scientific Apreo 2 SEM具有多功能性和高質量成像性能,即使是磁性樣品或是傳統意義上成像非常困難的樣品也可以實現成像性能。全新Apreo 2 SEM在原有性能基礎之上,進一步優化了超高分辨成像能力,并且增設許多新功能提升其高級功能的易用性。Apreo 2 SEM在耐用的SEM平臺上引入了SmartAlign(智能對中)技術,不再需要用戶手動進行調整操作,而且,FLASH(閃調)自動執行精細調節工作,只需移動鼠標幾次,就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦校正。此外,Apreo 2 SEM是在10 mm分析工作距離下具有1 nm分辨率的SEM,長工作距離不再意味著低分辨成像,有了Apreo 2 SEM,任何用戶都可以自信地得到很好的成像效果。
【特點與應用】
全面解析
全面的納米和亞納米分辨率性能,適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料;
的靈活性
非常靈活的處理范圍,樣品類型廣泛,包括絕緣體、敏感材料和磁性樣品,收集最重要的數據;
SmartAlign技術
使用SmartAlign(智能對中)技術,實現光學系統自動調整,減少維護時間;
的自動化
的自動化用于自動圖像微調、撤銷、用戶向導、Maps成像拼接的FLASH(閃調)技術;
實時定量EDS
元素信息觸手可及,利用ColorSEM技術,提供實時元素面分布成像定量分析,結果獲取更加快速、簡便;
長工作距離
在長工作距離(10 mm)具有高分辨率的性能(1 nm)和優秀的圖像質量的SEM
產品參數
發射源:高穩定型肖特基場發射電子槍
分辨率:
型號 | Apero 2 C | Apero 2 S |
末級透鏡 | 靜電 | 復合 |
高真空 | ||
15kV | 0.9nm | 0.5nm |
1kV | 1.0nm | 0.8nm |
500V | 1.2nm | 0.8nm |
加速電壓范圍:200 V ~ 30 kV
著陸電壓范圍:200 eV ~ 30 keV
探針電流范圍:1 pA ~ 50 nA,連續可調(可選配400 nA)
水平視場寬度:10 mm WD時為3 mm(相當于放大倍率29倍)
X-Ray工作距離:10 mm,EDS檢出角35°
樣品室:從左至右為 340 mm 寬的大存儲空間,樣品室可拓展接口數量12個,含能譜儀接口3 個(其中2個處于180° 對角位置)
樣品臺:五軸優中心全自動馬達驅動
X=110 mm,
Y=110 mm,
Z=65 mm,
T=-15o~90o,
R=360o (連續旋轉)
多用途SEM樣品安裝載物臺,可同時放置 18 個標準樣品座(φ12 mm)
樣品尺寸,直徑122 mm,可沿X、Y軸旋轉時
樣品高度,到優中心點間隔為85 mm
樣品承重 5 kg
探測器系統:
樣品室二次電子探測器ETD
鏡筒內背散射電子探測器T1
鏡筒內二次電子探測器T2
鏡筒內二次電子探測器T3(選配)
樣品室內IR-CCD紅外相機(觀察樣品臺高度)
圖像導航彩色光學相機Nav-Cam+™
樣品室低真空二次電子探測器(選配)
可伸縮透鏡下背散射探測器(選配)
控制系統:
操作系統:Windows 10
圖像顯示:24寸LCD顯示器,顯示分辨率1920×1200
支持用戶自定義的GUI,可同時實時顯示四幅圖像
軟件支持Undo和Redo功能
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