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CMI760 Oxford PCB行業面銅線路板測厚儀膜厚儀

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CMI760測厚儀具有非常高的多功能性和可擴展性,對多種探頭的兼容使這款測厚儀滿足了包括表面銅、穿孔內銅和微孔內銅厚度的測量、以及孔內銅質量測試的多種應用需求。同時-CMI760測厚儀具有*的統計功能用于測試數據的整理分析。Oxford PCB行業面銅線路板測厚儀膜厚儀

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Oxford PCB行業面銅線路板測厚儀膜厚儀

Oxford PCB行業面銅線路板測厚儀膜厚儀具有非常高的多功能性和可擴展性,對多種探頭的兼容使這款測厚儀滿足了包括表面銅、穿孔內銅和微孔內銅厚度的測量、以及孔內銅質量測試的多種應用需求。同時-CMI760測厚儀具有*的統計功能用于測試數據的整理分析。

Oxford PCB行業面銅線路板測厚儀膜厚儀優勢:

1、孔銅、面銅及涂層厚度測量一體化,一機多用,性價比高。

2、應用微電阻及電渦流原理流量,無需破壞樣品。

3、具有*的自動溫度補償功能,實現不同條件下的準確測。

4、強大的數據統計及處理功能。

5、可替換的面銅探針設計,降低使用成本。

6、NIST(美國國家標準和技術委員會)認證的標準片。

Oxford PCB行業面銅線路板測厚儀膜厚儀SRP-4面銅探頭測試技術參數:

銅厚測量范圍:
化學銅:10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
電鍍銅:0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
線形銅可測試線寬范圍:8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
準確度:±1% (±0.1 μm)參考標準片
**度:化學銅:標準差0.2 %;電鍍銅:標準差0.5 %
分辨率:0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

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