面向生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的移動(dòng)式粗糙度、波紋度及輪廓測(cè)量?jī)xHommel-Etamic W20 無導(dǎo)頭型探測(cè)系統(tǒng)專為執(zhí)行移動(dòng)式粗糙度測(cè)量而設(shè)計(jì)。它不僅測(cè)量所有常見的粗糙度參數(shù),而且評(píng)估工件表面的波度和總輪廓。該測(cè)量?jī)x特別緊湊,便于攜帶。內(nèi)置電池,因此即使在沒有外部電源時(shí)也能使用。測(cè)量探頭會(huì)自動(dòng)定位在工件表面上。機(jī)動(dòng)化的探頭降低功能可簡(jiǎn)化操作 - 您只需定位掃描單元,然后開始測(cè)量。在完成測(cè)量時(shí),探臂會(huì)自動(dòng)從工件抬起。這可以防止探針被損壞。寬大的彩色觸摸屏非常清晰,且易于操作。借助集成的打印機(jī),您可以立即以圖形形式顯示測(cè)量結(jié)果。可以顯示參數(shù)、輪廓圖形、Abbott 曲線和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。該測(cè)量?jī)x提供了七個(gè)測(cè)量程序,以及使用集成的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)來測(cè)試測(cè)量?jī)x的選項(xiàng)。
在使用時(shí)有如下特性
◇安全:機(jī)動(dòng)化的探頭降低功能可保護(hù)粗糙度探頭,并自動(dòng)設(shè)置測(cè)量范圍
◇移動(dòng)式應(yīng)用:帶無導(dǎo)頭型探測(cè)系統(tǒng)的緊湊掃描單元
◇記錄測(cè)量值:立即打印出結(jié)果
◇易用:得益于寬大的彩色觸摸屏和對(duì)場(chǎng)景敏感的探測(cè)功能,測(cè)量結(jié)果的顯示清晰而透明
◇信息量大:顯示參數(shù)、輪廓圖形、Abbott 曲線和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
◇多功能:提供適用于執(zhí)行個(gè)別測(cè)量任務(wù)的各種配件
德國(guó)霍梅爾HOMMEL-ETAMIC W20粗糙度儀特征
探測(cè)全面-由于采用了無導(dǎo)頭探測(cè)系統(tǒng),所以可移動(dòng)測(cè)量所有常見的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數(shù)
定位自動(dòng)-配置了電動(dòng)測(cè)頭降低系統(tǒng),所以測(cè)頭可自動(dòng)在工件表面定位和提起
測(cè)量靈活-內(nèi)置蓄電池,所以使用時(shí)不需外接電源,盡顯移動(dòng)測(cè)量的靈活性
信息廣泛-可顯示特性參數(shù),微觀輪廓圖形、支撐率曲線和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)
操作簡(jiǎn)單-通過配置上下文提示功能鍵的觸摸屏,操作簡(jiǎn)單
記錄方便-集成了打印機(jī),可及時(shí)記錄測(cè)量結(jié)果文件,方便簡(jiǎn)單
測(cè)量可靠-通過內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)粗糙度標(biāo)準(zhǔn)塊,可及時(shí)檢測(cè)測(cè)量?jī)x,保證了測(cè)量的可靠性
通過觸摸屏完成上下文提示操作
8個(gè)測(cè)量程序
針對(duì)4個(gè)基本功能的功能鍵
可評(píng)價(jià)所有常見的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數(shù)
公差評(píng)估的可能性廣
通過觸摸屏快速且舒適輸入其他數(shù)據(jù)
清晰顯示測(cè)量結(jié)果:特性參數(shù)、輪廓線圖形、交互支撐率曲線、廣泛的統(tǒng)計(jì)功能
用于測(cè)量粗糙度、波紋度和輪廓的基準(zhǔn)測(cè)頭
憑借 ±300 或 ±100 μm 的量程和準(zhǔn)確的紅寶石支承, TKL 系列的基準(zhǔn)面測(cè)頭特別適用于測(cè)量精細(xì)粗糙度。測(cè)頭在出廠時(shí)得到校準(zhǔn),由于配置了電感轉(zhuǎn)換器的雙線圈系統(tǒng),所以測(cè)頭的持續(xù)穩(wěn)定性出色.
艾達(dá)米克霍梅爾簡(jiǎn)介
隸屬于德國(guó)耶拿集團(tuán)工業(yè)計(jì)量部門的霍梅爾- 艾達(dá)米克公司不僅是業(yè)界優(yōu)質(zhì)生產(chǎn)制造商,而且也是高精度、接觸式和非接觸式生產(chǎn)計(jì)量方面的系統(tǒng)供應(yīng)商。這個(gè)系列的產(chǎn)品提供整體解決方案,包括針對(duì)諸如測(cè)試表面、形狀和確定尺寸公差的范圍廣泛的測(cè)量任務(wù),貫穿整個(gè)生產(chǎn)過程,適用于終檢或在計(jì)量室內(nèi)使用。
用于量粗糙度、波紋度和輪廓的基準(zhǔn)測(cè)頭LONG-TERM STABLE SKID PROBES
憑借±300或±100 μm的量程和精確的紅寶石支承,TKL系列的基準(zhǔn)面測(cè)頭特別適用于測(cè)量精細(xì)粗糙度。測(cè)頭在出廠時(shí)得到校準(zhǔn),由于配置了電感轉(zhuǎn)換器的雙線圈系統(tǒng),所以測(cè)頭的持續(xù)穩(wěn)定性出色。
測(cè)頭TKl 300l 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)頭,用于測(cè)量平面、軸和直徑4 mm以上內(nèi)孔的R,W和P輪廓參數(shù)。 量程±300 µm *大水平探測(cè)深度30 mm 配2 µm/90°針尖 商品號(hào)1000 4132 配5 µm/90°針尖 商品號(hào)243 588 | 測(cè)頭TKlK 100/5 用于測(cè)量直徑1 mm以上的小孔。 量程±100 µm *大水平探測(cè)深度5 mm 配2 µm/90°針尖 商品號(hào)233 280 配5 µm/90°針尖 商品號(hào)M0 435 035 |
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測(cè)頭TKlQ 100/17 配有針對(duì)橫向測(cè)量專門設(shè)計(jì)的支承,用于測(cè)量深槽、凹槽或開擋。 量程±100 µm *大水平探測(cè)深度17 mm? 配2 µm/90°針尖 商品號(hào)231 207 配5 µm/90°針尖 商品號(hào)1004 4932 | 測(cè)頭TKlT 100/17 用于測(cè)量深槽。 量程±100 µm 垂直/水平探測(cè)深度13/17 mm 配2 µm/90°針尖 商品號(hào)552 726 配5 µm/90°針尖 商品號(hào)224 835 |
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