四探針三維平臺
四探針三維平臺，主要用于搭載測試樣品，可以三維移動、電性能測試、光電性能測試、光化學測試等。

• 優勢特點
  在進行太陽能光電轉換實驗時， 為了測試實驗樣品的轉化效率，需要在照射的同時測定樣品的各項參數，因為常規的萬用表測量自身測量原理的局限性，在對半導體材料測量時不能夠得到準確的數據。而采用四探針法測量時，配合相應的光電測試系統，得出的、穩定、準確的測試數據。


 

• 產品應用
  四探針三維平臺，主要用于搭載測試樣品，可以三維移動、電性能測試、光電性能測試、光化學測試等。


 

• 詳細介紹
  1.AULTT-FTVM手動平臺
  此款探針平臺分為手動平臺和自動平臺，手動平臺采用微分頭進行手動調整操作。
  A.三維平臺為三個位移平臺及直角固定塊組合而成，用于接收水平光源照射。
  B.每個位移臺面可移動±25mm的距離，移動精度為0.02mm，可精確對準光源發射點。
  C.位移臺采用絲桿傳動，并用2根優質鋼導軌作為穩定裝置，移動穩定無顫動。
  D.探針組件固定后可調節位置，可適應邊長25mm-45mm的被測樣本。
  E.探針固定到絕緣針套內，保證“被測樣本-探針-數據收集”整個測量環節內沒有外部干擾，測量信號純凈。
  F.探針與針套不采用粘合劑固定，如需更換探針簡單方便。
  G.采用正規廠商生產的尖頭彈簧探針，表面鍍銅工藝，確保接觸信號良使用*。
  2.AULTT-FTVA自動平臺
  適用于水平光束照射的自動平臺采用步進電機作為驅動，除擁有手動平臺的特點外還有以下特點。
  A.采用步進電機驅動，步進角為1.8°，保證了位移的精確度。
  B.擁有單獨的控制器與位移平臺連接，控制平臺的運動，并可根據使用需要變更運動速度，zui大速度可達到10mm/s。
  C.采用半閉環控制系統，可根據電機運動狀態計算位移狀態，可實現較精確的位移操作，重復定位精度可達到±5μ。
  D.擁有上位機軟件，可在PC端對平臺進行遠距離控制。
  3.AULTT-FTLM手動平臺
  適用于光束垂直照射的探針平臺同樣分為手動平臺和自動平臺，手動平臺的X、Y軸平移采用微分頭進行精細調整，升降臺采用螺桿調整。
  A.三維平臺為兩個位移平臺及一個垂直升降臺組成，用于接收垂直光源照射。
  B.每個位移臺面可移動60mm的距離，移動精度為0.02mm，可精確對準光源發射點。
  C.垂直升降臺行程為60mm-120mm，采用剪形支撐結構，可承載較大載荷，使用安全可靠。
  D.位移臺采用絲桿傳動，并用2根優質鋼導軌作為穩定裝置，移動穩定無顫動。
  E.探針組件固定后可調節位置，可適應邊長25mm-45mm的被測樣本。
  F.探針固定到絕緣針套內，保證“被測樣本-探針-數據收集”整個測量環節內沒有外部干擾，測量信號純凈。
  G.探針與針套不采用粘合劑固定，如需更換探針簡單方便。
  H.采用正規廠商生產的尖頭彈簧探針，表面鍍銅工藝，確保接觸信號良使用*。
  4.AULTT-FTLM自動平臺
  適用于垂直光源的自動平臺采用步進電機進行驅動，除擁有手動平臺的特點外還有以下特點。
  A.位移平臺采用步進電機驅動，步進角為1.8°，保證了位移的精確度，可達到±10μ。
  B.垂直升降臺由原來的手動升降方式也更改為電機驅動的升降方式，可精確的調整升降高度，精度為5μ，重復定位精度可達到±10μ。
  C.擁有單獨的控制器與位移平臺連接，控制平臺的運動，并可根據使用需要變更運動速度，zui大速度可達到10mm/s。
  D.采用半閉環控制系統，可根據電機運動狀態計算位移狀態，可實現較精確的位移操作，重復定位精度可達到±5μ。
  E.擁有上位機軟件，可在PC端對平臺進行遠距離控制。



 

• 規格參數

  平臺型號	AULTT-FTVM	AULTT-FTVA	AULTT-FTLM	AULTT-FTLM
  樣品放置面	垂直	垂直	水平	水平
  操作模式	手動	電動，PC控制	手動	電動，PC控制
  位移距離	50mm	50mm	50mm	50mm
  平臺規格	220*190*328mm	210*210*278mm	166*166*108mm	210*210*120mm
  應用	樣品垂直放置 光束水平照射	樣品垂直放置 光束水平照射	樣品水平放置，光束由上向下照射	樣品水平放置，光束由上向下照射