iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀
描述
電感耦合等離子體 （ICP） 光學發射光譜法 （OES） 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的*的強大技術。

產品詳情

iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀

描述

iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀電感耦合等離子體 (ICP) 光學發射光譜法 (OES) 是對液體和固體樣品中的痕量元素進行分析和定量的*的強大技術。

進樣系統：

iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀該儀器出廠時已設定分析就緒的進樣參數，所以用戶不再需要優化泵速度、等離子體射頻功率和氣體流速。

• 一個 3 通道、12 轉子的蠕動泵，帶有*的排液監測傳感器，提供順暢、低噪音的信號和安全的操作
• 插入式炬管座和接頭方便安裝/拆卸
• 組合式進樣系統易于重組和維護
• 增強基質耐受 (EMT)炬管設計改善了高基質樣品的操作
• 光學排液監測傳感器可監測來自霧化室的排液情況，在發現不正常排液的情況下可自動熄滅等離子體炬焰，從而節約樣品、氣體和電力
• 提供一系列的 CETAC 自動進樣器，從而能夠優化 iCAP 7200 ICP-OES 進行自動化、無人照看的分析

等離子體和射頻發生器：

• iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀雙向（垂直和水平）等離子體觀測

光學系統：

• 光學系統的低吹掃氣體流量有助于減少運行費用
• 高光傳輸效率的光學設計可提供優異的靈敏度
• 高分辨率中階梯光譜儀通過減少光譜重疊提高檢測準確度
• 具有熱切斷設計的恒溫控制多色器增強了長期穩定性，可在不再進行校準的情況下延長分析運行

檢測器：

• 電荷注入裝置 (CID) 檢測器： CID-86
• 可以在 175 到 847 nm 范圍內自由連續選擇波長
• 具備抗鄰近像素暈光效應的功能，減少了復雜樣品基質引起的假陽性結果
• 非破壞性讀取和隨機存取的集成改善了信背比和檢測限

軟件：

• iCAP™ 7200 ICP-OES 等離子體光譜儀直觀的 Qtegra™ Inligent Scientific Data Solution™ 平臺軟件將預加載方法模板作為標準設置，能夠進行"開箱即用"的操作