X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT9400系列
搭載雙向分離工檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計(jì)數(shù)管）
搭載在X射線能量分辨率上，優(yōu)xiu的半導(dǎo)體檢測器（起作用液化氮）和計(jì)數(shù)率優(yōu)xiu的比例計(jì)數(shù)管，能夠根據(jù)運(yùn)用需要對應(yīng)使用。特點(diǎn)是半導(dǎo)體檢測器，能夠區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。

X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT9400系列

X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT9400系列  錨點(diǎn)搭載在X射線能量分辨率上，優(yōu)xiu的半導(dǎo)體檢測器（起作用液化氮）和計(jì)數(shù)率優(yōu)xiu的比例計(jì)數(shù)管，能夠根據(jù)運(yùn)用需要對應(yīng)使用。特點(diǎn)是半導(dǎo)體檢測器，能夠區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點(diǎn)：

1. 能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進(jìn)行測定

2.對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進(jìn)行高精度的Au鍍膜厚度測定

3.能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜

4. 薄膜FP軟件

對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運(yùn)用領(lǐng)域。

5.適用測定極微小部分

15μmΦ的準(zhǔn)直管為標(biāo)準(zhǔn)裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度。

6. 搭載75W高性能X射線管

7. 容易對微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察

搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)。

8. 能夠測定大型打印基板的大型平臺

9. 依據(jù)照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品

10. 搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器

11. 利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動平臺

12. 正確的對焦

利用激光能夠正確得對焦測試樣品。

13. 報(bào)告制作軟件

運(yùn)用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數(shù)據(jù)制作成書面材料。

選購項(xiàng)

• 電鍍液分析（塊體標(biāo)準(zhǔn)曲線）
• 能譜匹配軟件（材料辨別）
• 掃描（強(qiáng)度面分析多點(diǎn)表示）軟件