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中國儀器網 會展報道】2018年3月30日，中國北京蟹島會議中心中人潮涌動，北京理化分析測試技術學會北京
質譜學會在此召開“2018年度北京質譜年會”。300余位來自高校院所、企事業單位的代表參加了此次會議。
會議為期兩日(30日—31日)，主題為“生命與健康”，旨在加強學術交流，了解質譜新技術和交叉學科的新進展，推進質譜技術、
色譜與質譜聯用技術在分析科學中的發展與應用。會議交流形式包括大會報告、學術沙龍、質譜技術及應用培訓。為了推動質譜技術交流與推廣，會議將邀請院士和質譜專家作質譜前沿技術與應用新進展報告。期間大會還設置了11個展位，組織質譜廠家進行新產品技術報告及儀器展示，島津、賽默飛、安捷倫、IONTOF作為贊助企業更是吸引了無數目光。
此次參會的是德國ION TOF駐中國辦事處北京艾飛拓科技有限公司，公司致力于材料分析儀器研發與銷售，秉承以用戶的需求為導向、以的品質為核心、以服務為宗旨，為用戶提供科學、合理的解決方案，為各行業的客戶服務。公司產品主要包括飛行時間二次離子質譜儀(TOF SIMS)，低能離子散射譜儀(LEIS)，高分辨磁力顯微鏡(HrMFM)等，并廣泛應用于半導體、微電子、材料、化學、醫藥、生物、冶金、環保、汽車工業等領域。
在本次會議期間，作為會議的主要贊助商之一，德國ION TOF在會議期間開展了一系列精彩的活動。在新技術報告中，派出了專家Seven Kayser發表質譜前沿技術報告：Hybrid SIMS：A new instrument for high resolution organic imaging with highest mass-resolving power and MS/MS。更通過TOF SIMS 5飛行時間二次離子質譜的亮相，秀出了實力。
在艾飛拓的展位上，中國儀器網記者先看到的就是這款TOF SIMS 5飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)。它是一種非常靈敏的分析系統，通過對樣品表面進行轟擊產生的二次離子，可以確定表面元素的構成。
這款儀器的應用領域非常廣泛，可以用于材料表面和表層的化學成份分析。化學元素或化合物在表面和塊體材料內部的分布。以及生物組織表面和內部成份和分布分析。包括如半導體、醫藥、生物、冶金、汽車等領域。對樣品的分析，如痕量金屬探測、化合物結構測定、原子量測定、同位素標定、失效分析等方面研究應用廣泛。許多用XPS，AES等分析不能確定的物質，都可以采用飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)分析。
TOF SIMS 5
產品主要特點：
1、可以并行探測所有元素和化合物，具有極高的傳輸率，只需要一次轟擊就可以得到研究點的完整質量譜圖。
2、可以探測的質量數范圍包括10000原子量單位以下的所有材料，包括H, He等元素。
3、可以分辨同位素。
4、質量分辨率可以達到10000至15000以上！
5、具有很小的信息深度(小于1nm)，可以分析材料表層(原子層)的結構。
6、極高的空間分辨率，對于樣品表面的組成結構一目了然。
7、達到ppm - ppb級的探測極限。
8、對于化合物，可以同時給出分子離子峰和官能團碎片峰；可以方便的分析出化合物和有機大分子的整體結構。
9、采用雙束離子源可以對樣品進行快速深度剖析。
10、采用的電子中和槍，可以的分析絕緣材料。
作為德國ION TOF駐中國辦事處的北京艾飛拓，售后服務完善、技術水平較高，有北大、中科院等院校高層次人才，具有豐富的SIMS經驗。未來必定能夠幫助ION TOF將更多儀器提供給國內的科研工作者和企業，并推動我國質譜技術不斷向好發展。
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